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高橋 嘉夫*; 坪井 寛行*; 山口 瑛子
no journal, ,
地層処分等で着目されている、粘土鉱物に対する陽イオンの吸着反応については、吸着構造が吸着イオンによって異なることが知られているが、その要因は未だ解決されていない。本発表は、上記課題に対し、X線吸収微細構造(XAFS)法を用いた系統的な計測を行うことで、吸着イオンのイオン半径が吸着構造を決定するという、有用な知見を得たことを報告する。尚、上記課題解決に当たっては、従来から用いられているX線回折法に加え、異なるイオン半径を持つ多くの陽イオンについて、同条件で系統的な放射光実験を行い、吸着イオンによる違いを分子レベルで比較したことが解決の糸口となった。これらの結果は、粘土鉱物への吸着機構の解明に資するだけでなく、環境中での元素の挙動予測や有害元素の除去法の開発等にも広く資する結果である。