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石川 法人; 大原 宏太; 太田 靖之*; 道上 修*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 268(19), p.3273 - 3276, 2010/10
被引用回数：10 パーセンタイル：56.82(Instruments & Instrumentation)高エネルギーイオン(200MeV Au)を照射したCeO
薄膜について電子的エネルギー伝達に伴う照射損傷をラマン分光法により解析した。CeOに起因するF2gピークのほかに、照射後に高波数側にブロードなピークが発達することがわかった。その結果は、計算による予測と同様の振る舞いであること、さらに真空熱アニールしたCeO試料と同様の振る舞いであることから、照射に伴う酸素欠損に起因すると結論付けた。
O
Basar, K.*; Xianglian*; Siagian, S.*; 大原 宏太*; 佐久間 隆*; 高橋 東之*; 阿部 修実*; 井川 直樹; 石井 慶信*
Indonesian Journal of Physics, 20(1), p.9 - 11, 2009/01
ナノサイズLiMnOの作製にLiOHとMnOの固相反応法によって成功した。本合成ナノ試料における、中性子散乱法によるScherrer法から評価した平均結晶子径や伝導度測定によって決定した活性化エネルギーはアニール温度の上昇によって増加することなどを明らかにした。
Xianglian*; Basar, K.*; 本多 宏之*; Siagian, S.*; 大原 宏太*; 佐久間 隆*; 高橋 東之*; 井川 直樹; 石井 慶信*
Solid State Ionics, 179(21-26), p.776 - 779, 2008/09
被引用回数：3 パーセンタイル：17.18(Chemistry, Physical)PbFのX線及び中性子散漫散乱を15K及び294Kにて測定した。散漫散乱の振動的なプロファイルは原子の熱振動による相関効果などによって説明できる。この散漫散乱の振動的なプロファイルに対する遠距離のPb-Pb原子間熱振動相関作用の寄与について初めて確認した。
irradiated with high-energy ions by means of X-ray diffraction measurement石川 法人; 知見 康弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 大原 宏太; Lang, M.*; Neumann, R.*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 266(12-13), p.3033 - 3036, 2008/06
被引用回数：43 パーセンタイル：92.4(Instruments & Instrumentation)150MeV
2.7GeVまでの高エネルギーイオンをセリウム酸化物に照射し、結晶構造変化に対応したX線回折ピークの変化を観測した。結晶構造の異なるナノメートルサイズのイオントラック形成を反映した新しいX線回折ピークが照射によって出現することがわかった。X線回折ピークの詳細な解析の結果、イオントラック内の結晶構造は乱れているが結晶構造を保っていること,酸素が非常に欠損している状態であることがわかった。
の散漫散乱Xianglian*; Basar, K.*; Sainer, S.*; 大原 宏太*; 佐久間 隆*; 高橋 東之*; 井川 直樹; 石井 慶信
no journal, ,
室温で斜方構造を持つ超イオン電導体
-PbFのX線及び中性子回折実験を行い、散漫散乱の振動的な部分に最も関与している原子の相関効果を検討した。散漫散乱強度の理論式に4.3Aまでの原子間相関効果を取り入れて解析した結果、温度294K及び15Kにおける散漫強度散乱強度差において生じる振動的な形状は、X線回折の場合はおもにPb-Pb原子間の熱相関効果によって決まり、中性子回折の場合はPb-FとPb-Pb原子間の熱振動による相関効果で決まることがわかった。
の高エネルギーイオン照射による損傷大原 宏太; 石川 法人; 境 誠司; 道上 修*; 太田 靖之*
no journal, ,
燃料酸化物セラミックス中の高エネルギー核分裂片発生に起因する照射損傷挙動を調べるために、東海タンデム加速器においてCeOセラミックスに高エネルギーイオン(200MeV Au)照射を行った。特に、照射損傷を特徴付ける酸素欠損について調べるために、ラマン分光測定及びX線回折測定を行った。高エネルギーイオン照射後、MeV領域の低エネルギーイオン照射では観測されないブロードなラマンバンドが観測され、酸素欠損量が照射量に対して単調増加していくことが明らかにできた。X線回折ピークの照射挙動も、その結果を支持する。
における高照射量領域での微細構造形成石川 法人; 大原 宏太; 山本 春也; 須貝 宏行; 園田 健*
no journal, ,
本研究では、10MeV Niイオンを高照射量照射したCeO多結晶体における表面の微細組織形成について調べた。これまでわれわれはCeOセラミックスの照射場中での損傷挙動を調べてきた。より高照射量に拡張して損傷挙動を調べるために、原子力機構TIARA加速器施設のタンデム加速器を利用して、10MeV Niイオンをより高照射量まで拡張(6
10
ions/cm
)して、照射後の表面状態を走査型電子顕微鏡(FE-SEM)によって調べた。その結果、サブナノオーダーの微細構造が形成されていることがわかった。また、照射表面とイオンビーム方向の角度に依存して異なる微細構造が形成されていることが示唆される。
の高エネルギーイオン照射による損傷,2大原 宏太; 石川 法人; 境 誠司; 松本 吉弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 木村 豊*
no journal, ,
高エネルギーイオン(200Mev Au)を照射したCeO薄膜中に形成されるイオントラック内の酸素欠損状態をX線回折,ラマン分光により解析した。イオン照射したセラミックス中に形成されるイオントラックは、非晶質状態であることが多いが、CeOではイオントラック内が結晶構造を保っている。そのため、結晶構造や結合状態を調べることにより、イオントラック内の情報を抽出できるのではないかと考えた。イオントラック内での酸素欠損状態を反映した物性変化が観測されると同時に、照射表面付近でイオントラック内の酸素欠損が顕著であることを示唆する結果を得た。
熊田 高之; 能田 洋平; 橋本 竹治; 小泉 智; 石川 法人; 大原 宏太
no journal, ,
軽水素に対する中性子の干渉性散乱長は、試料中における軽水素の核スピン偏極度に強く依存する。動的核スピン偏極(DNP)法により、フリーラジカル近傍の軽水素核スピンを選択的に偏極した試料からは、核スピン偏極の、つまりフリーラジカルの空間分布を反映した中性子小角散乱(SANS)パターンが得られる。われわれはこのDNP-SANS法を用いて、放射線照射により固体試料中に生じた化学損傷の空間分布(スパー,トラックの構造)を決定できないかと考え研究を行っている。本発表ではその研究目標に向けた、2周波数マイクロ波を用いた時間分解型SANSシステムの構築と、イオンビーム照射によって生じたトラック内のフリーラジカルを用いたDNP研究について発表する。
の高エネルギーイオン照射による損傷,3大原 宏太; 石川 法人; 境 誠司; 松本 吉弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 木村 豊*
no journal, ,
CeO薄膜への200MeV Auの照射に伴って、CeOの(002)面の反射に起因するX線回折ピークの低角度側に肩(新しいピークとみなせる)が成長し、さらに新しいラマンバンドが成長することを確認している。イオントラック内部の酸素欠損構造を反映していると仮定すると、上記の損傷データが説明できることを前回まで報告してきた。今回は、照射に伴って現れる新しいX線回折ピークはイオントラック内部の結晶構造を反映している、という解釈をさらに進めて、イオントラックによる重畳の効果も説明できるモデルの構築を試みた。X線回折ピークの肩を、イオントラックを反映したピークと仮定して、そのピーク強度の照射量依存性を解析した。イオントラックの試料内の占有率の照射量依存性を計算により予測し、重畳の効果を考慮すればX線回折データが定性的に説明できることを明らかにした。
