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by means of synchrotron radiation X-ray photoelectron spectroscopy岩瀬 彰宏*; 大野 裕隆*; 石川 法人; 馬場 祐治; 平尾 法恵; 園田 健*; 木下 幹康*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 267(6), p.969 - 972, 2009/03
被引用回数：37 パーセンタイル：91.11(Instruments & Instrumentation)二酸化セリウム(CeO)に対する高エネルギー重イオンの照射効果を調べるため、CeOの焼結体に室温で200MeVのキセノンイオンを照射した。照射試料及び未照射試料について、X線光電子分光スペクトル(XPS)を測定した。XPSスペクトルを解析した結果、照射試料においては、セリウムの原子価状態の一部が4価から3価に変化していることがわかった。そこでイオンの照射量に対するCe
の生成量を定量的に調べた。その結果、セリウムの還元に対応する酸素原子のはじき出し量は、3%から5%であった。この値は、CeOと200MeVイオンの弾性衝突のみで説明するには大きすぎると考えられる。この結果は、200MeVのキセノンイオン照射によって誘起される電子励起の寄与によって酸素のはじき出しが起こることを示唆するものである。
大野 裕隆*; 岩瀬 彰宏*; 松村 大樹; 西畑 保雄; 水木 純一郎; 石川 法人; 馬場 祐治; 平尾 法恵; 園田 健*; 木下 幹康
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 266(12-13), p.3013 - 3017, 2008/06
被引用回数：60 パーセンタイル：96.13(Instruments & Instrumentation)200MeV Xeイオンを照射したCeOにおける照射損傷を広域X線吸収微細構造(EXAFS)測定及びX線光電子分光(XPS)測定により評価した。その結果、照射後にCeの周りの酸素欠損が生じていること,Ceの価数が+4から+3に変化していることが明らかになった。
by using synchrotron radiation X-ray absorption spectroscopy; As a simulation study for radiation damage in high-burnup light water reactor fuels大野 裕隆*; 松村 大樹; 西畑 保雄; 水木 純一郎; 石川 法人; 園田 健*; 木下 幹康*; 岩瀬 彰宏*
Materials Research Society Symposium Proceedings, Vol.1043, p.179 - 183, 2008/00
200MeVのXeイオンを照射させたセリア薄膜に対して、照射効果をX線吸収分光によって調べた。それにより、Ceにおける酸素の配位数が照射により減少していることがわかり、また、Debye-Waller因子は増大していることがわかった。一方、Ce-O原子間距離は精度範囲以上の変化は観測されなかった。高密度の電子励起状態がセリアに与える影響を考察した。
石川 法人; 岡本 芳浩; 平尾 法恵*; 中川 将*; 岩瀬 彰宏*; 堀 史説*; 大野 裕隆*; 北川 通治*; 大嶋 隆一郎*
no journal, ,
原子炉圧力容器鋼において、照射による硬化と照射脆化の原因として照射促進析出による銅原子の析出が挙げられる。脆化評価法の開発を目的として、FeCuモデル合金における照射によるビッカース硬度変化と電気抵抗率変化との相関があることがわかった。
大野 裕隆*; 前田 修大*; 中川 将*; 図子 善大*; 岩瀬 彰宏*; 馬場 祐治; 平尾 法恵*; 石川 法人; 知見 康弘; 左高 正雄; et al.
no journal, ,
核燃料中の核分裂片による損傷を評価するために、UOの模擬物質CeOへの重イオン照射効果をX線吸収分光法により評価した。3keV Ar照射実験及び放射光を利用したX線吸収分光測定の結果、照射によって弾性的はじき出しを介して酸素がはじき出され、Ceの電荷が4+から3+に変化することを明らかにした。
by means of syncrotron radiation X-ray photoelectron spectroscopy and Ce K-edge EXAFS spectroscopy岩瀬 彰宏*; 大野 裕隆*; 松村 大樹; 西畑 保雄; 水木 純一郎; 石川 法人; 馬場 祐治; 平尾 法恵; 園田 健*; 木下 幹康*
no journal, ,
原子力燃料高燃焼時の組織変化の機構解明の一環として、模擬物質酸化物セラミックスCeOの重イオン照射効果を放射光施設SPring-8でのX線光電子スペクトロスコピー(XPS),広域X線吸収微細構造(EXAFS)スペクトロスコピーを用いて研究した。前者からは、例えばCeの荷電状態を反映した電子の束縛状態変化を検知することができ、後者からは、例えばCe-Oの結合状態を反映した情報を得ることができる。照射後測定の結果、重イオン照射後にCeの電荷状態が+4から+3に変化していることを見いだした。照射に伴う酸素欠損が、Ceの電荷状態に影響を与えていると説明できる。CeのK吸収端での広域X線吸収微細構造(EXAFS)のスペクトルの解析結果からは、低照射量領域Ce-O間の結合が弱くなっていると考えられる。
における酸素原子の挙動; XPS, EXAFSによる評価岩瀬 彰宏*; 大野 裕隆*; 石川 法人; 松村 大樹; 西畑 保雄; 水木 純一郎; 馬場 祐治; 平尾 法恵; 園田 健*; 木下 幹康
no journal, ,
新クロスオーバー研究として軽水炉核燃料の高燃焼度化によるリム組織形成の機構解明を目的として、CeOに高速重イオン照射を行い、特に照射場での酸素の挙動をXPS, EXAFSといった放射光を用いた分光法により評価した。200MeV Xeを照射したCeOでは、Ceの一部が4価から3価に価数が変化した。Ce原子周りのOの配位数が減少することなどの結果から、高速重イオン照射により酸素原子が不安定となり、高照射量では結晶の乱れに至ることを示唆された。
