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石川 法人; 大原 宏太; 太田 靖之*; 道上 修*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 268(19), p.3273 - 3276, 2010/10
被引用回数：10 パーセンタイル：56.82(Instruments & Instrumentation)高エネルギーイオン(200MeV Au)を照射したCeO
薄膜について電子的エネルギー伝達に伴う照射損傷をラマン分光法により解析した。CeOに起因するF2gピークのほかに、照射後に高波数側にブロードなピークが発達することがわかった。その結果は、計算による予測と同様の振る舞いであること、さらに真空熱アニールしたCeO試料と同様の振る舞いであることから、照射に伴う酸素欠損に起因すると結論付けた。
irradiated with high-energy ions by means of X-ray diffraction measurement石川 法人; 知見 康弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 大原 宏太; Lang, M.*; Neumann, R.*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 266(12-13), p.3033 - 3036, 2008/06
被引用回数：43 パーセンタイル：92.4(Instruments & Instrumentation)150MeV
2.7GeVまでの高エネルギーイオンをセリウム酸化物に照射し、結晶構造変化に対応したX線回折ピークの変化を観測した。結晶構造の異なるナノメートルサイズのイオントラック形成を反映した新しいX線回折ピークが照射によって出現することがわかった。X線回折ピークの詳細な解析の結果、イオントラック内の結晶構造は乱れているが結晶構造を保っていること,酸素が非常に欠損している状態であることがわかった。
村尾 裕之; 谷内 茂康; 太田 和則; 村松 靖之; 中村 武彦; 寺門 義文
UTNL-R-0435, p.15_1 - 15_9, 2004/03
NSRRで台形パルス運転及び合成パルス運転を行う場合は、あらかじめオフラインシミュレーション及びオンラインシミュレーションを行い、目的とする運転パターンの安全性や妥当性を確認する必要がある。これらのシミュレータを用いることによって実際のNSRR炉出力をほぼ模擬することができるが、初期出力上昇時や出力制御運転時において、シミュレーション結果と実運転結果との間に若干の不一致が認められている。このため制御棒の反応度価値及び燃料温度フィードバック係数を再評価し、シミュレータに反映した。その結果、シミュレーション精度を向上させることができ、NSRR台形パルス運転及び合成パルス運転の自由度を向上することができた。
村尾 裕之; 谷内 茂康; 太田 和則; 村松 靖之; 中村 武彦; 寺門 義文
JAERI-Tech 2003-094, 41 Pages, 2004/01
JAERI-Tech-2003-094.pdf:2.26MB
NSRRで台形パルス運転及び合成パルス運転を行う場合は、あらかじめオフラインシミュレーション及びオンラインシミュレーションを行い、目的とする運転パターンの安全性や、妥当性を確認する必要がある。これらのシミュレータを用いることによって実際のNSRR炉出力をほぼ模擬することができるが、初期出力上昇時や出力制御運転時において、シミュレーション結果と実運転結果との間に若干の不一致が認められている。このため、制御棒の反応度価値及び燃料温度フィードバック係数を再評価しシミュレータに反映した。その結果、シミュレーション精度を向上させることができ、NSRRの台形パルス運転及び合成パルス運転の自由度を向上することができた。
石川 法人; 知見 康弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 本橋 治彦*; 岩瀬 彰宏*
no journal, ,
本研究では、59keVのエネルギー範囲の単色高エネルギーX線を導電性セラミックスEuBaCu
Oy薄膜に低温で照射し、照射効果のX線エネルギー依存性を調べた。その結果、固体内X線吸収に起因する格子欠陥形成を反映した電気抵抗増加を観測することができた。さらに、その電気抵抗変化が、試料の吸収した総エネルギーで決定されることがわかった。固体内電子励起が、高密度でなくとも格子欠陥を生成することを示したものであり、X線照射も高エネルギーイオン照射と同様に電子励起効果を起こすことがわかった。
石川 法人; 知見 康弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 齋藤 勇一; 千葉 敦也; 福住 正文*; 堀 史説*; 岩瀬 彰宏*
no journal, ,
本研究では、弾性衝突効果が支配的であるクラスターを利用して、単原子ビームでは発現しないクラスタービーム特有の欠陥生成について調べた。照射後の欠陥評価の際に、X線回折法を用いて調べた結果、形成される欠陥量としては単原子ビームとクラスタービームとは違いはないが、その欠陥分布に違いがあり、結晶歪にその違いが現れることがわかった。
の高エネルギーイオン照射による損傷大原 宏太; 石川 法人; 境 誠司; 道上 修*; 太田 靖之*
no journal, ,
燃料酸化物セラミックス中の高エネルギー核分裂片発生に起因する照射損傷挙動を調べるために、東海タンデム加速器においてCeOセラミックスに高エネルギーイオン(200MeV Au)照射を行った。特に、照射損傷を特徴付ける酸素欠損について調べるために、ラマン分光測定及びX線回折測定を行った。高エネルギーイオン照射後、MeV領域の低エネルギーイオン照射では観測されないブロードなラマンバンドが観測され、酸素欠損量が照射量に対して単調増加していくことが明らかにできた。X線回折ピークの照射挙動も、その結果を支持する。
の高エネルギーイオン照射による損傷,2大原 宏太; 石川 法人; 境 誠司; 松本 吉弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 木村 豊*
no journal, ,
高エネルギーイオン(200Mev Au)を照射したCeO薄膜中に形成されるイオントラック内の酸素欠損状態をX線回折,ラマン分光により解析した。イオン照射したセラミックス中に形成されるイオントラックは、非晶質状態であることが多いが、CeOではイオントラック内が結晶構造を保っている。そのため、結晶構造や結合状態を調べることにより、イオントラック内の情報を抽出できるのではないかと考えた。イオントラック内での酸素欠損状態を反映した物性変化が観測されると同時に、照射表面付近でイオントラック内の酸素欠損が顕著であることを示唆する結果を得た。
の高エネルギーイオン照射による損傷,3大原 宏太; 石川 法人; 境 誠司; 松本 吉弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 木村 豊*
no journal, ,
CeO薄膜への200MeV Auの照射に伴って、CeOの(002)面の反射に起因するX線回折ピークの低角度側に肩(新しいピークとみなせる)が成長し、さらに新しいラマンバンドが成長することを確認している。イオントラック内部の酸素欠損構造を反映していると仮定すると、上記の損傷データが説明できることを前回まで報告してきた。今回は、照射に伴って現れる新しいX線回折ピークはイオントラック内部の結晶構造を反映している、という解釈をさらに進めて、イオントラックによる重畳の効果も説明できるモデルの構築を試みた。X線回折ピークの肩を、イオントラックを反映したピークと仮定して、そのピーク強度の照射量依存性を解析した。イオントラックの試料内の占有率の照射量依存性を計算により予測し、重畳の効果を考慮すればX線回折データが定性的に説明できることを明らかにした。
