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口頭

高速炉実機未臨界状態で行う反応度フィードバック精密測定技術の開発,1-5; FCA実験計画

福島 昌宏; 岡嶋 成晃; 北村 康則; 安藤 真樹; 山根 剛; 森 貴正; 西 裕士; 山根 義宏*; 兼本 茂*

no journal, , 

高速炉実機において、反応度フィードバック効果を未臨界状態にて精密測定することが可能な反応度計測システムを開発することを目指している。未臨界反応度計測法として考案した炉雑音法と修正中性子源増倍法を組合せたシンセシス法について、実機炉心への適用性を検証するために、日本原子力研究開発機構の高速炉臨界実験装置FCAを用いた実証試験を計画した。本発表では、FCA実験体系の概要と実験計画について報告する。

口頭

高速炉実機未臨界状態で行う反応度フィードバック精密測定技術の開発,1-1; 全体計画

岡嶋 成晃; 西 裕士; 山根 義宏*; 兼本 茂*; 山根 剛; 森 貴正; 北村 康則; 福島 昌宏; 北野 彰洋; 安藤 真樹; et al.

no journal, , 

高速炉システムを対象に、実機での原子炉起動前炉物理試験を未臨界状態で実施できる測定技術を開発し、高速炉臨界実験装置(FCA)を用いて実証するとともに、その技術に基づく実機の計測システムの提案を文部科学省のエネルギー対策特別会計委託事業として実施している。本発表では、その研究の背景と目的,研究の概要を報告する。

口頭

高速炉実機未臨界状態で行う反応度フィードバック精密測定技術の開発,2-1; 計画の概要

岡嶋 成晃; 西 裕士; 兼本 茂*; 山根 義宏*; 福島 昌宏; 北村 康則; 北野 彰洋; 鈴木 隆之; 安藤 真樹; 山根 剛

no journal, , 

高速炉システムを対象に実機での原子炉起動前炉物理試験を未臨界状態で実施できる測定技術として、修正中性子源増倍法を基本に炉雑音計測法を組合せ、かつ解析による補正を適用した測定法(シンセシス法)を開発検討した。また、その適用性について高速炉臨界実験装置(FCA)を用いて検証した。さらに、その技術に基づく実機の計測システムを提案した。この一連の実施内容に関する5件のシリーズ発表の第1番目として、その背景と目的及び概要について報告する。

口頭

引張変形中複層鋼板に生じるひずみ分布評価

小島 真由美*; 井上 純哉*; 安藤 風花*; 南部 将一*; 小関 敏彦*; 徐 平光; 城 鮎美; 秋田 貢一; 菖蒲 敬久; 鈴木 裕士

no journal, , 

材料の複合化により強度と延性の相反する特性の両立が図られている。本研究グループでは高強度鋼と高延性鋼を積層型に組み合わせた複層鋼板の開発および研究を進めており、焼き入れマルテンサイト鋼を高強度層に採用した複層鋼板では優れた力学的特性を得ている。しかしながら、高強度高延性を同時に追求するためには強度と延性の差異が顕著な材料で構成する必要があるため、層ごとや層内のミクロ組織に起因したひずみや応力の分配挙動が平均の力学的特性を左右することが予想される。また、界面剥離といった複合材料特有の問題が生じる可能性もあり、様々なスケールで生じるひずみ分布の把握は複層鋼板の力学的特性を考える上で重要である。そこで本研究では、中性子・放射光回折法や光学顕微鏡および走査型電子顕微鏡を用いた画像相関法による引張変形時のひずみ測定を行い複層鋼板中に生じるひずみ測定を行った。その場引張変形中性子回折と放射光回折による界面付近の弾性歪み測定結果により、力学的特性の差異が顕著な組み合わせであっても、界面剥離やクラックが生じる事なく高負荷ひずみレベルまで両組織に応力が効率よく伝達していることが確認された。一方で、光学顕微鏡を用いた画像相関法により巨視的に生じるネッキングの開始点よりも小さな負荷ひずみレベルにおいて、塑性ひずみの局所化が観察視野内に生じることが確認された。

口頭

Investigation of deep levels in diamond based radiation detector by transient charge spectroscopy with focused heavy ion microbeam

安藤 裕士*; 神林 佑哉*; 加田 渉*; 小野田 忍; 牧野 高紘; 佐藤 真一郎; 梅沢 仁*; 杢野 由明*; 鹿田 真一*; 花泉 修*; et al.

no journal, , 

次世代半導体放射線検出器材料としてダイヤモンド半導体が注目されており、その実現のためには、検出器特性を劣化させる結晶欠陥の詳細を明らかにする必要がある。今回、化学気相成長(CVD)により結晶成長したダイヤモンドを用いてショットキーバリアダイオードを作製し、ダイヤモンド中の欠陥準位を重イオンマイクロビームを用いた過渡電荷分光法によって調べた。その結果、0.27eVの活性化エネルギーをもつ欠陥準位が見出され、これがダイヤモンド放射線検出器の電荷収集効率に影響を及ぼしていることが明らかになった。

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