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大道 博行; 山口 直洋*; 緑川 克美*; 河内 哲哉; 森林 健悟
レーザーハンドブック第2版, p.325 - 335, 2005/04
原子の束縛準位間の反転分布に基づくX線レーザーには、いくつかの手法があるが、そのうち、過渡電子衝突励起,再結合,内殻電離法に関して紹介を行った。小型短パルスレーザーを励起源とした過渡電子衝突励起法では、ニッケル様錫イオン(12.0nm)などで利得係数3035cmが得られており、利用研究が始まっている。例えば、強誘電体結晶のキュリー点近傍の相転位を軟X線レーザーで観測された。この方法により温度変化によるドメイン構造変化が明らかとなった。内殻電離法は、短波長X線レーザーに適した方法である。しかしながら、励起源として極めて高輝度のX線源が必要となるため、紫外線領域でしか発振していない。高輝度X線源の研究は理論,実験両面で盛んに行われており、それにともなって、このX線レーザーのモデル開発を進めている。例えば、10W/cmの強度のレーザーのプラズマ照射により、10W/cmの輝度のラーマX線の発生を見積もり、このラーマX線のマグネシウム蒸気(密度10cm)への照射により利得係数10cm,波長25nmのX線レーザー発振を予測した。
岡坂 和尊*; 河内 哲哉; 大山 等*; 原 民夫*; 山口 直洋*; 安藤 剛三*
Japanese Journal of Applied Physics, 39(1), p.70 - 81, 2000/01
被引用回数:1 パーセンタイル:6.92(Physics, Applied)再結合プラズマを用いたリチウム様アルミニウムイオンの軟X線レーザーは数ジュールのエネルギーで軟X線レーザー光が発生できる方法として研究が進められているが、今回、照射レーザーのパターンを変え、それによる発生ゲイン係数の変化を観測し、結果を数値シミュレーションと比較することにより、ゲイン発生のための照射レーザーパターンの最適化を行った。
依田 修; 宮下 敦巳; 村上 浩一*; 大柳 孝純*; 青木 貞雄*; 山口 直洋*
Japanese Journal of Applied Physics, 32(SUPPL.32-2), p.255 - 257, 1993/00
レーザープラズマを軟X線光源とする実験室規模のX線吸収分光装置を開発した。この装置の主たる利用目的は種々の物質のエネルギービームによるプロセシング過程をX線吸収微細構造(XAFS)の観測によって解明することである。装置の構成、特徴及び性能について述べるとともに、カーボンのレーザーアブレーションの過程を時間分解測定した結果について報告する。
宮下 敦巳; 依田 修; 村上 浩一*; 大柳 孝純*; 青木 貞夫*; 山口 直洋*
Proc. of the Laser Advanced Materials Processing,Vol. 1: LAMP 92, p.1029 - 1034, 1992/00
レーザプラズマX線源は放射光に比べコンパクトであり、かつ、入射レーザ光と同程度の短パルス幅で軟X線領域で高輝度と、実験室規模の時間分解測定に使用するX線源として適している。我々の装置においては測定可能エネルギー領域を100eV~1keVの低エネルギー側、1keV~3keVの高エネルギー側と分割し広いエネルギー領域をカバーする事ができる。また、X線生成に用いるレーザを一部分試料照射用に分岐させ、同時にX線生成レーザを遅延回路を通してターゲットに入射する事により、レーザ照射後の試料を時間分解吸収分光測定出来る。生成されるX線量はターゲットチェンバーで10photons/sr、分光器のエネルギー分解能は低エネルギー側、高エネルギー側ともE/Eの値で約510である。
依田 修; 宮下 敦巳; 村上 浩一*; 青木 貞雄*; 山口 直洋*
Excimer Lasers and Applications III, p.463 - 466, 1991/00
高原子番号物質に、絞り込んだ高強度パルスレーザを照射した時のプラズマから発生する軟X線は時間分解X線吸収分光の光源として極めて有望である。我々は数年末20J出力のYAGレーザを用いた時間分解X線吸収分光装置の開発を行って来た。こり装置の特徴の一つとして、比較的高エネルギー(~3keV)までのX線吸収分光を行えるような設計としたことが挙げられる。このため、この装置には低・高エネルギー用に2組の光学系を設置した。現在までに得られたこの装置の特性と、この装置を用いて計画されている研究について紹介する。
久保 博孝; 逆井 章; 西野 信博*; 小出 芳彦; 赤岡 伸雄*; 原 誠*; 千葉 真一; 杉江 達夫; 竹内 浩; 横溝 英明; et al.
Photon Factory Activity Report, P. 277, 1989/00
直入射分光器の絶対感度較正を、高エネルギー物理研究所Photon Factoryのシンクロトロン輻射を用いて、350-1250の波長範囲で行った。較正した分光器は、AlにMgFをオーバー・コートした回折格子(曲率半径0.4m、2400本/mm、ブレーズ角6.9゜)と多チャンネル・ディテクターにより構成されている。シンクロトロン輻射を、瀬谷・波岡型分光器で単色光にし、入射光の絶対強度はNational Institute of Standards and Technology(USA)で感度較正されたフォト・ダイオートで測定した。較正結果に含まれる誤差は、13-35%と評価され、これは通常の輝線を用いた方法より高精度であり、JT-60トカマクの不純物挙動診断に要求される精度を十分に満たす。
久保 博孝; 杉江 達夫; 逆井 章; 小出 芳彦; 西野 信博*; 横溝 英明*; 竹内 浩*; JT-60チーム; 田中 健一郎*; 前沢 秀樹*; et al.
Review of Scientific Instruments, 59(8), p.1515 - 1517, 1988/09
被引用回数:27 パーセンタイル:91.15(Instruments & Instrumentation)JT-60の不純物挙動の研究の為、多くのスペクトル線を空間分解して同時に測定できるシステムを開発した。このシステムは複数の違った視野を持つユニット分光器により構成される。