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山本 康彰*; 柳生 秀樹*; 瀬口 忠男
EIM-88-135, p.39 - 47, 1988/12
高分子絶縁材料の放射線劣化を防止するために、耐放射線性付与剤(アンチラッド)の効果をESRによるラジカル濃度の変化、酸化による酸素消費量の測定で検討した。エネルギー移動型のアンチラッドを添加した場合には、ラジカルの生成量が減少するのに対して、酸化防止型のアンチラッドの場合には、初期の生成されるラジカル濃度はさほど変わらないが、アンチラッドに捕捉されたラジカルと高分子鎖にできたラジカル間の反応が促進され、酸化物が抑制されることが確認された。77kの低温でラジカル生成の量を測定することによって、有効な添加剤の選択ができることが予測された。
-ray irradiated polymer insulation materials瀬口 忠男; 山本 康彰*
JAERI 1299, 64 Pages, 1986/03
高分子材料の低線量率放射線劣化の促進劣化条件を決めるための必要なパラメーターである高分子材料への酸素の拡散と溶解を測定する方法を開発した。この方法によって多数の高分子材料について、種々の条件における拡散系数(D)と溶解度(S)係数および拡散の活性化エネルギー(OE)を求めた。このレポートはこれらの測定結果をまとめたデータ集である。DとSは純粋の高分子では照射によって低下し、特に放射線酸化の場合に著しい。しかし、配合した高分子材料では照射効果が小さくなり、放射線酸化のの条件で100Mrad照射後でも低下は極めて少なくなる。
Eは高分子の種類に依存するが、配合や照射によってほとんど変化しない。
瀬口 忠男; 柳生 秀樹*; 山本 康彰*
Hitachi Cable Rev., (4), p.37 - 42, 1985/00
ゴム、プラスチック、芳香族高分子材料の耐放射線性を酸素加圧下線照射法による促進試験で評価した。この促進試験は低線量率で長期間放射線照射したときの高分子材料の劣化を模擬するものである。種々の高分子材料について、通常の方法で評価した耐放射線性とは大きく異なることが見い出された。促進劣化試験で得られた各種高分子材料の耐放射線性のデータは原子炉関係の放射線の場で使用される材料の寿命を推定するのに有効であると考えられる。
森田 洋右; 瀬口 忠男; 吉田 健三; 山本 康彰*; 柳生 秀樹*
EIM-84-129, p.9 - 18, 1984/00
近年、ポリイミド系を始めとする新たな高分子絶縁材料が開発され、利用されるようになってきた。しかし、これらの材料の耐放射線性試験は一般に、高線量率の線、あるいは電子線照射で行なわれており、低線量率で長期間(例えば、数百rad/h,数十年)に相当する試験はほとんど行なわれていない。本研究では各種耐熱絶縁ワニス(ポリイミド,ポリエステルイミド,ポリアミドイミド,変性ポリエステル系)をえらび、これらに低線量率照射を模擬する酸素加圧下照射(酸素圧、7kg/cm
G,30kg/cmG)を行い、ワニスの照射劣化を主に電気特性やゲル分率によって評価した。また、放射線の他に熱,熱水蒸気を組合せた複合劣化試験を行ないワニスの劣化挙動も調べた。これらの結果、ポリイミドワニスが優れた耐放射線性を低線量率照射条件においても示すことが明らかとなった。
瀬口 忠男; 荒川 和夫; 吉田 健三; 山本 康彰*; 柳生 秀樹*
EIM-83-132, p.53 - 61, 1983/00
各種の芳香族高分子材料の耐放射線性、特に低線量率長期間照射条件における耐放射線性をしらべるために、酸素加圧下照射を行ない、電気絶縁抵抗,比重,引張り試験を行なった。また比較のために空気中高線量率照射も行ない、同じ測定をした。ポリイミド,ポリエーテルイミド,ポリアミド,ポリエーテルケトンは酸素加圧下照射による放射線酸化劣化に対しても、400Mrad以上の耐放射線性を示した。これに対し、ポリサルホン,ポリエーテルサルホン,ポリブチレンテレフタレート,ポリカーボネイトは50~100Mradで、伸びが著るしく低下した。
瀬口 忠男; 貴家 恒男; 吉田 健三; 柳生 秀樹*; 山本 康彰*
EIM-82-114, p.95 - 67, 1982/00
各種高分子材料の耐放射線性、特に低線量率長期間照射による耐放射線性を評価するために、25種類の高分子材料(厚さ1mmのシート状試料)を酸素加圧下で線照射して、放射線酸化劣化させた。照射劣化後、引張り試験、電子試験、比重やゲル分率の測定を行ない、劣化の度合を検討した。従来行なわれている空気中高線量率照射の劣化と比較し、耐放射線性を評価した。
