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edge石井 賢司*; 遠山 貴巳*; 浅野 駿*; 佐藤 研太朗*; 藤田 全基*; 脇本 秀一; 筒井 健二*; 曽田 繁利*; 宮脇 淳*; 丹羽 秀治*; et al.
Physical Review B, 96(11), p.115148_1 - 115148_8, 2017/09
被引用回数：29 パーセンタイル：77.61(Materials Science, Multidisciplinary)We investigate electronic excitations in La
(Br,Sr)
CuO
using resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) at the oxygen edge. We observed momentum-dependent spectral weight below 1 eV, which is consistent with theoretical calculation of the dynamical charge structure factor on oxygen orbitals in a three-band Hubbard model. Our results confirm that the momentum-dependent charge excitations exist on the order of the transfer energy (
), and the broad spectral line shape indicates damped and incoherent character of the charge excitations at the energy range in the doped Mott insulators.
山本 夕可*; 石橋 康彦*; 稲村 泰弘; 片山 芳則; 三品 具文*; 中原 純一郎*
Journal of Chemical Physics, 124(14), p.144511_1 - 144511_5, 2006/04
被引用回数：12 パーセンタイル：38.31(Chemistry, Physical)液体2硫化炭素の1.2GPaまでの高圧X線回折測定がエネルギー分散法によって行われた。その結果は、通常のレナードジョーンズポテンシャルを用いた分子動力学計算と比較された。測定されたすべての圧力点で、両者は非常によく一致した。液体構造は、結晶化の直前の圧力まで、剛体球液体へと近づくように変化した。構造変化と高圧下での光学応答の関係について議論した。
4 surface高橋 正光; 米田 安宏; 山本 直昌*; 水木 純一郎
Physical Review B, 68(8), p.085321_1 - 085321_5, 2003/08
被引用回数：17 パーセンタイル：62.72(Materials Science, Multidisciplinary)従来、GaAs(001)-24構造は、電子線回折パターンによって、
･
･
の3つの相に区別されてきた。しかし最近では、これらの構造は基本的には類似しており、やの相は、相の秩序が乱れたものであるという指摘もある。本論文では、その場表面X線回折法により見いだされた、･相に特徴的な構造の乱れについて報告する。･･に相当する表面について、逆格子空間のHK平面内における分数次反射のピークプロファイルを測定したところ、相と比べ、･相では、ピークが広がるとともに、ピークの位置が[110]方向に移動していることが見いだされた。モデル計算により、このピークの移動は、[110]方向の4倍周期を乱すドメイン境界によるものであることがわかった。この結果に基づき、ドメイン境界の構造について議論をおこなった。
高橋 正光; 米田 安宏; 井上 博胤*; 山本 直昌*; 水木 純一郎
Journal of Crystal Growth, 251(1-4), p.51 - 55, 2003/04
被引用回数：3 パーセンタイル：22.01(Crystallography)MBE成長のさい、二次元成長する系では、一原子層ごとの成長に対応して、RHEED強度振動がおきることが知られている。同様の回折強度振動は、X線でも見られる。一般に、回折強度Iは、表面の原子配列で決まる構造因子Fと、表面粗さ因子mとの積I=Fmで表される。従来は、回折強度Iの測定から、主に表面粗さmに着目した議論がなされていた。これに対し本研究では、散漫散乱強度の測定から、Fとmを分離した解析が可能であることを示す。基板温度435
でGaAs(001)成長を行なったとき、成長前の表面はc(44)構造であるが、成長中は表面のGa濃度が増えるため、21構造に変化する。したがって回折強度変化には、表面粗さ以外に、Fの変化に由来する成分も含まれる。本方法により、Fとmの寄与が分離して求められた。
高橋 正光; 米田 安宏; 井上 博胤*; 山本 直昌*; 水木 純一郎
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 41(10), p.6247 - 6251, 2002/10
被引用回数：55 パーセンタイル：85.2(Physics, Applied)III-V族半導体の結晶成長の研究を目的に、MBE装置と組み合わせた表面X線回折計を製作し、放射光施設SPring-8の実験ステーションBL11XUに設置した。成長室の壁の一部に、X 線の窓材としてBeを用いたことで、真空槽の外からX線を照射し、散乱X線を真空槽外に導いて、その場X線回折測定を行うことができる。本装置のX線回折計は、単結晶構造解析用の四軸回折計と同等の機能を有しており、広範囲の逆格子空間の強度測定に基づいた、表面原子の三次元座標の決定を可能にする。本論文では、GaAs(001) 清浄表面において、(24)2構造と一致する回折強度分布が得られたことを示す。さらに、成長中のX線回折強度を実時間測定し、成長過程の動的な解析ができることを示す。GaAs(001)上のホモエピタキシャル成長中のX線回折では、RHEED振動と同様の強度変化が明瞭に観察された。X線の場合は多重散乱が無視できるので、解析の精密化が期待できる。
山本 純一郎*; 二川 正敏; 倉田 有司; 直江 崇*
日本機械学会関東支部茨城講演会(2002)講演論文集, p.1 - 2, 2002/09
照射材料の機械的特性評価として、照射スペースの制約、放射性物質の低減の観点から、微小領域からマクロ特性を評価する技術の確立が待たれる。このような評価法として、押し込み試験から得られる押し込み荷重-深さ曲線に対して逆解析を適用して、機械的特性を定量的に評価する試みを行っている。ここでは、Ni基耐熱合金ハステロイXRを用いて、材料内部の組織を変化させるために冷間加工処理及び熱時効処理を行い、それらの単軸引張強度試験からマクロ特性を評価した。次に、押し込み荷重-深さ曲線から各処理材のマクロ特性評価を行い、両者を比較した。これより、異方性に起因する押し込み荷重-深さ曲線のばらつきを考慮すれば、押し込み荷重-深さ曲線から評価した材料構成式で単軸引張強度特性曲線をほぼ表せることを確認した。
山本 徹*; 秋山 雅胤*; 松本 純一郎; 中嶋 龍三*
JAERI-M 9357, 80 Pages, 1981/02
核分裂生成物の崩壊熱の問題は、原子炉の実用化に伴う安全性の問題と関連して、最近とみに重要視されてきている。シグマ委員会・崩壊熱評価ワーキング・グループでは、個々の核分裂生成物の崩壊データを基に、総和計算によって崩壊熱を評価する作業をほぼ終了した。本報告書は、その評価作業のまとめの一部で、ベーター、ガンマ線の崩壊構造データから、計算コードPROFPを用いて平均崩壊エネルギーおよびその誤差を計算した方法と結果、および崩壊データの得られない核種についてはその評価値(理論的な推定評価の詳細は別の報告書を予定)を、半減期、Q値、崩壊様式と分岐比などと共に、合計1172核種について表示したものである。
