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土屋 佳則*; 中村 寛嗣*; 村山 茂幸*; 保志 賢介*; 下条 豊; 森井 幸生; 濱口 由和*
J. Magn. Magn. Mater., 177-181, p.1447 - 1448, 1998/00
被引用回数:5 パーセンタイル:32.45(Materials Science, Multidisciplinary)組成、温度で様々に変化するBcc Cr-Fe-Mn三元合金の磁性について、中性子散乱実験、メスバウア効果測定を行った。CrFeMn(x=10.0,30.0,15.0)のJRR-3Mに設置したTAS-1、TAS-2による中性子散乱実験では、T以下で磁気散乱ピークが観測され、これより反強磁性モーメントの見積もりを行った、メスバウアスペクトルから内部磁場分布と平均内部磁場を求めた。これらはCr-Fe合金と類似していることが判った。平均内部磁場はTから発生し、T,Tで大きく成長する。x=15.0の試料ではFeの磁気モーメントはTで1,13Kで1.7と算出された。
土屋 佳則*; 中村 寛嗣*; 村山 茂幸*; 保志 賢介*; 下条 豊; 森井 幸生; 濱口 由和*
Physica B; Condensed Matter, 237-238, p.446 - 448, 1997/00
被引用回数:11 パーセンタイル:58.5(Physics, Condensed Matter)bcc Cr-Fe-Mn合金は組成、温度により磁性が変化する。CrFeMn合金(x≧3.6)では温度降下とともに反強磁性、強磁性、スピングラス相の順で磁気相転移することが確認されている。この磁気相転移現象を詳細に調べる目的で、CrFeMn合金について室温から10Kの温度範囲でのメスバウア効果測定、中性子散乱実験を行った。メスバウア測定から平均内部磁場を見積った結果、磁気相図で推定されるネール点(約250K)以下の温度で平均内部磁場の上昇が観測された。強磁性、スピングラス相の温度領域では温度低下とともに平均内部磁場は一層成長する。中性子散乱から強磁性秩序の存在を示す(100)磁気散乱ピークはネール点以下の温度で出現し、強磁性、スピングラス相の温度領域でも残留している。これらの実験から、強磁性、反強磁性モーメントを算出し、Cr-Fe-Mn合金の逐次磁気相転移を考察する。
土屋 佳則*; 尾藤 輝夫*; 村山 茂幸*; 近澤 進*; 濱口 由和*
Journal of the Physical Society of Japan, 65(10), p.3289 - 3293, 1996/10
被引用回数:17 パーセンタイル:72.31(Physics, Multidisciplinary)Crに対するFeの添加はCrの反強磁性を弱め、Feが19%を越えると強磁性が出現する。一方Mnは数%の添加でCrのネール点を大きく上昇させる。Crに対して相反する作用をするFe、MnをCrに同時に加えたとき、複雑な磁気的性質を示すことが期待できる。本研究ではbcc Cr-Fe-Mn合金について磁化測定を行い、この合金系の磁気的性質を考察した。磁場中冷却(FC)、無磁場中冷却(ZFC)の磁化の温度依存性から、この合金がスピングラス転移することがわかり、同時にアロットプロットから強磁性転移が確認された。これまで報告されている電気抵抗の結果と総合して、CrFeMn、CrFeMn合金について磁気相図を作成した。この合金は温度降下とともに反強磁性、強磁性、スピングラスの順に磁気相転移する。また、LEE-CPA理論との対応、電子数と磁気モーメントの関係についても言及している。
土屋 佳則*; 盛 一也*; 村山 茂幸*; 近澤 進*; 下条 豊; 森井 幸生; 濱口 由和*
Physica B; Condensed Matter, 213-214, p.366 - 368, 1995/00
被引用回数:0 パーセンタイル:0.01(Physics, Condensed Matter)体心立方CrFeMn合金は、これまでの電気抵抗、磁化、交流帯磁率等の測定によりx≦3.6の領域で、高温側から常磁性、反強磁性、強磁性、スピングラス相の順に磁気転移することが確認されている。この合金系の磁気転移現象をさらに追求するため、x=3.6、20.5の組成の試料について、TAS2、CTNSによる中性子回折を行った。その結果、x=3.6、20.5いずれの合金も、反強磁性ネール温度以下で回折スペクトルに(100)超格子磁気散乱が観測され、反強磁性秩序の存在を確認した。(100)超格子ピークは、より低温での強磁性、スピングラス相の領域でも残留している。(100)反射の積分強度、ピーク高さ、格子定数の温度依存性は、反強磁性ネール温度付近でそれぞれ最大を示す結果が得られたが、これらの解釈にはより詳細な測定が必要である。