Visualization of invisible internal defects using infrared thermography and numerical computation for the diagnostic standard

石井 敏満; 稲垣 照美*; 板根 泰輔*; 星屋 泰二; 大岡 紀一

Proc. of Int. Conf. on Optical Technology and Image Processing in Fluid,Thermal and Combustion Flow, p.1 - 5, 1998/00

材料や構造物の内部欠陥を非破壊的かつ非接触で検出する赤外線サーモグラフィー法の確立において、検出可能な欠陥寸法を明らかにすること及び欠陥寸法や位置を熱画像から高精度で予測することが重要となる。本報では、ランプ等で非定常加熱した試験片表面の温度変化から欠陥を識別する従来の試験法に代わって、試験片の裏面をヒーターで加熱して表面の温度変化から欠陥を識別する試験を試み、欠陥を検出できた。また、検出可能な欠陥寸法を評価するために構築した解析手法が、実験で計測された温度変化を高精度で模擬できることを確認した。更に、加熱中の試験片の表面に生じる温度分布の変化に与える欠陥の深さや幅及び材料の熱物性値の影響についてこの解析手法を用いて評価し、今後、検出可能な欠陥寸法の解明を進める上で重要な基礎データを取得した。特に深さが深く、幅が広い欠陥ほど温度分布の変化が顕著となった。