検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年
検索結果: 3 件中 1件目~3件目を表示
  • 1

発表形式

Initialising ...

選択項目を絞り込む

掲載資料名

Initialising ...

発表会議名

Initialising ...

筆頭著者名

Initialising ...

キーワード

Initialising ...

使用言語

Initialising ...

発行年

Initialising ...

開催年

Initialising ...

選択した検索結果をダウンロード

報告書

氷粒ブラスト装置の設計研究

清水 信*; 木室 晴視*; 綾部 統夫*; 河野 保昌*; 宮原 修二*; 山下 三郎*; 金沢 和夫*; 林 三雄*; 吉崎 正人*

PNC TJ118 83-05VOL2, 222 Pages, 1984/03

PNC-TJ118-83-05VOL2.pdf:14.66MB

氷粒プラスト法についてプラスト性能ならびに適用性についての試験検討を行い,これをもとに氷粒プラスト装置の概念設計を実施した。除染性能に関しては,性能に影響を及ぼすと考えられるプラスト圧力,氷/ドライアイス混合比等をパラメータとして模擬試験片への投射実験を実施し最適プラスト条件の把握を行うと同時に除染機構の推定を行った。氷粒プラスト装置を$$alpha$$除染セルならびにグローブボックスへの適用性の調査を行うと共に剥離物の廃棄物処理系への移行量について実験にて確認を行った。又投射時に氷粒プラスト装置が発する騒音について調査を行い騒音の低減化について検討を行った。以上の調査検討に装置上の検討を加え$$alpha$$除染セルに設置する氷粒プラスト装置の概念設計を実施した。

報告書

氷粒ブラスト装置の設計研究; 昭和58年度

清水 信*; 木室 晴視*; 綾部 統夫*; 河野 保昌*; 宮原 修二*; 山下 三郎*; 金沢 和夫*; 林 三雄*; 吉崎 正人*

PNC TJ118 83-05VOL1, 42 Pages, 1984/03

PNC-TJ118-83-05VOL1.pdf:1.06MB

氷粒ブラスト法について,ブラスト性能ならびに適用性についての試験検討を行い,これをもとに氷粒ブラスト装置の概念設計を実施した。除染性能に関しては,性能に影響を及ぼすと考えられるブラスト圧力,氷/ドライアイス混合比等をパラメータとして模擬試験片への投射実験を実施し,最適ブラスト条件の把握を行うと同時に除染機構の推定を行った。氷粒ブラスト装置をアルファ除染セルならびにグロ沍プボックスへの適用性の調査を行うと共に,剥離物の廃棄物処理系への移行量について実験にて確認を行った。又投射時に氷粒ブラスト装置が発する騒音について調査を行い騒音の低減化について検討を行った。以上の調査検討に装置上の検討を加えアルファ除染セルに設置する氷粒ブラスト装置の概念設計を実施した。

口頭

Automatic similarity identification of 2D diffraction patterns with noisy background for 3D coherent X-ray diffractive imaging

徳久 淳師*; 城地 保昌*; 河野 秀俊; 郷 信広*

no journal, , 

We proposed a method for classifying and assembling two-dimensional diffraction patterns to reconstruct the three-dimensional diffraction intensity functions. In the classification process, similarity of each pair of patterns is judged based on the correlation of corresponding pixels along the concentric circles When two diffraction patterns are similar to each other, a straight line with high correlations appears from the origin to a certain high scattering-angle region. Theoretically, the integrated value of the correlation value along this line is proportional to the extent of the similarity and can be used as threshold for the classification. This correlation line disappears with increasing scattering-angle due to the quantum noise and the structural irregularity. In our estimation, diffraction images of 106orders will be required to construct the 3D structure with 3 ${AA}$; resolution for a molecule with a radius of 200 ${AA}$; In this case, the necessary number of pattern comparisons is $$sim$$ 10$$^{10}$$ order. To achieve such a huge number of comparisons, we have to develop an automatic system. In this meeting, we will report how to deal with such a huge amount of data and our current status of the system.

3 件中 1件目~3件目を表示
  • 1