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清水 浩貴*; 小杉 晋也*; 田原 佑規*; 安永 和史*; 金田 保則*; 石川 法人; 堀 史説*; 松井 利之*; 岩瀬 彰宏*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 286, p.291 - 294, 2012/09
被引用回数:27 パーセンタイル:87.49(Instruments & Instrumentation)非磁性酸化物CeOへの高速重イオン(200MeV Xe)照射によって、強磁性が発現することを初めて突き止めた。照射量増加に伴い、系統的に飽和磁化が変化することがわかった。発現した強磁性の起源を推定するために、照射試料についてXRD(X線回折)測定,XPS(X線光電子分光)測定を行った。その結果、照射によってCeO中の酸素欠損が増加することが示唆された。酸素欠損の形成に伴って、CeがCeに変化することによって、Ceの局在化した4f電子が磁気モーメントに寄与するプロセスを提案し、合理的に現象を説明できることを示した。本研究は、原子力機構の施設供用制度に基づいて行われた成果である。
田原 佑規*; 清水 浩貴*; 石川 法人; 岡本 芳浩; 堀 史説*; 松井 利之*; 岩瀬 彰宏*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 277, p.53 - 57, 2012/04
可燃毒の添加による核燃料酸化物の照射影響の変化を調べることを目的として、核燃料模擬物質(CeO)にGdOを添加した試料にイオン照射し、照射後の局所構造変化を放射光X線分光法により評価した。GdO添加量の増加に伴い照射損傷が顕著になる傾向が見られ、Ceと異なる配意数を持つGdの添加による局所構造の乱れが耐照射性劣化を引き起こしていることが示唆された。
田原 佑規*; 清水 浩貴*; 石川 法人; 岡本 芳浩; 堀 史説*; 松井 利之*; 岩瀬 彰宏*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 277, p.53 - 57, 2012/04
被引用回数:11 パーセンタイル:63.41(Instruments & Instrumentation)核燃料のガドリニアのドープ効果と核分裂生成物元素の高エネルギー照射効果を、セリアを使い調べた。照射実験では、200MeVのXeイオンを照射し、照射効果を広域X線吸収微細構造(EXAFS)法を使いその影響を評価した。照射によって、第1近接Ce-OとCe-Ceの距離が長くなり、その傾向はガドリニアをドープしたもので顕著になった。デバイワーラー因子も照射により大きくなった。ただし、ガドリニアのドープによるデバイワーラー因子への影響は小さかった。
小杉 晋也*; 松井 利之*; 石川 法人; 伊藤 真義*; 桜井 吉晴*; 愛甲 一馬*; 清水 浩貴*; 田原 佑規*; 堀 史説*; 岩瀬 彰宏*
Journal of Applied Physics, 109(7), p.07B737_1 - 07B737_3, 2011/04
被引用回数:7 パーセンタイル:31.23(Physics, Applied)FeRh金属間化合物に高エネルギーイオン(200MeV Xe)照射することによって発現した強磁性状態の起源を調べるために、SPring-8において磁気コンプトン散乱のプロファイルを照射後試料について測定し、SQUID磁束計の磁気測定結果と比較した。磁気コンプトン散乱が電子スピンモーメントのみを検出することを考慮して解析した結果、イオン照射によって誘起される強磁性は、軌道磁気モーメント由来ではなく、スピン磁気モーメント由来であることがわかった。
岩瀬 彰宏*; 清水 浩貴*; 堀 史説*; 松井 利之*; 石川 法人; 金田 保則*
no journal, ,
最近、重元素酸化物であるCeOに高速重イオン照射をすることにより磁性が発現することを見いだした。本講演では、その結果を報告するとともに、そのメカニズムについて議論する。200MeV XeイオンをCeOに210/cmの照射量レベルまで照射すると、CeOの磁化が照射量に対して単調増加することがわかった。X線分光法により、照射前のCeの価数が+4であるのに対して、照射によって+3価のCeが増加することがわかった。これらの結果から、CeOにおける磁化の発現は、イオン照射により発生するCe原子に局在する4f電子に起因する可能性が示唆される。
岸野 孝典*; 清水 浩貴*; 堀 史説*; 岩瀬 彰宏*; 石川 法人; 岡本 芳浩; 齋藤 勇一
no journal, ,
核燃料UO中の高速核分裂片による照射損傷に関する基礎的知見を得るために、高エネルギーイオン照射した核燃料模擬物質CeOに対する照射影響を、XRD(X線回折)法、EXAFS(広域X線吸収微細構造)法、XPS(X線光電子分光)法、SQUID磁束計測法を用いて評価した。その結果、照射したバルクCeO試料について、格子欠陥形成(格子定数の増加)および酸素欠損の存在(XAFSのフーリエ変換スペクトルにおける酸素ピークの減少、XPSスペクトルにおけるCe信号の増加、強磁性信号の増加)を強く示唆する結果が得られた。