Modeling for predicting survival fraction of cells after ultra-high dose rate irradiation

白石 裕太*; 松谷 悠佑; 楠本 多聞*; 福永 久典*

Physics in Medicine & Biology, 69(1), p.015017_1 - 015017_14, 2024/01

https://doi.org/10.1088/1361-6560/ad131b

超高線量率照射( 40Gy/sec)を使用するFLASH放射線療法(FLASH-RT)は、従来の高線量率( 6Gy/min)を用いた治療(CONV-RT)と比較し、正常組織の機能を温存することが期待できる新たな治療法として知られる。FLASH-RTによる照射中では、放射線飛跡間の相互作用により生じる化学過程の変調が正常組織の機能保存の主要因であることが提案されているが、化学過程の変化と細胞応答の関係性は未だ解明されていない。そこで本研究では、超高線量率照射下における化学過程と初期応答であるDNA損傷発生数の関係を考慮した予測モデル(integrated microdosimetric-kinetic (IMK) model for FLASH-RT)を開発し、細胞応答メカニズムの研究を行った。その結果、化学過程依存的に変化するDNA損傷収率を考慮した本モデルにより、さまざまな細胞株タイプに対するCONV-RTとFLASH-RTの細胞殺傷効果の実測値の再現に成功した。本成果は、FLASH-RT照射後の細胞応答メカニズムの理解と治療効果の高精度な予測に貢献することが期待される。