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永谷 清信*; 八尾 誠*; 早川 鉄一郎*; 大政 義典*; 梶原 行夫*; 石井 真史*; 片山 芳則
Physical Review Letters, 89(24), p.243401_1 - 243401_4, 2002/12
被引用回数:16 パーセンタイル:65.1(Physics, Multidisciplinary)中性の自由クラスターのサイズ選択EXAFS(広域X線吸収微細構造)に関する新しい方法を提案した。そこでは、X線吸収過程のみならず、下方遷移過程もまた構造情報を得るために用いられる。この方法を実験的に実証するため、われわれはEXAFSと光電子光イオンコインシデンスを同時に測定する方法を開発し、第3世代強力X線源を用いることによってセレンクラスタービームに対する実験を行った。セレンの小さなクラスターに対するEXAFSスペクトルが得られ、理論的な予言と批判的に比較された。
吉野 洋子; 財部 健一*; 石井 真史*; 片山 芳則; 下村 理
Physica B; Condensed Matter, 273-274, p.781 - 783, 1999/12
被引用回数:1 パーセンタイル:8.73(Physics, Condensed Matter)DX状態は強く局在している。この性質は、局在している電子が空になった内殻に緩和する過程を観察することによって調べることができる。われわれは、放射光を用いることによって、AlGaAs:Se (x=0.33,(cm))の二つの異なった光イオン化の過程を見いだした。この二つは、以下の過程に仮に同定される。一つは、内殻電子の伝導帯(CB)への直接遷移とそれに続くDXセンターの電子の空になった内殻への捕獲でありK-edge、 もう一つはDXセンターの電子のCBはのオージェイオン化とそれに続く他の電子の空になった内殻への捕獲である K-edge。