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大高 仁護*; 松田 茂行*; 森山 史朗*; 井手 静雄*; 石本 彰*; 柴 公倫*
PNC TN952 85-04, 93 Pages, 1985/03
ATR実証炉では「ふげん」用気水分離器よりも約70%蒸気処理量の多い高負荷型気水分離器を採用し,必要とする気水分離器の個数の増大を極力抑制し,蒸気ドラムをコンパクトなものにする方向で設計が進められている。実証炉用気水分離器のキャリアンダー及びキャリオーバー特性を把握するため,昭和59年度に,ATR実証炉の蒸気ドラム内部構造を摸擬した試験容器を製作し,既設大型熱ループ試験装置に付加した。本報告書は,特性試験の計画立案,運転,計測及び解析に資するため,試験容器,気水分離器,熱交換器等の構造寸法,配管の構成,計測用センサの構造と取付位置,並びに運転要領書を記載したものである。
石本 和聖; 平出 哲也; 鈴木 淳市*; 大久保 成彰; 鈴木 一彦*
no journal, ,
SUS316の塑性変形により導入される欠陥評価のために陽電子消滅寿命測定を行った。変形を与える前にはほとんど長寿命成分が見られなかったが、40%の変形を与えることで177ピコ秒の成分が86%程度現れ、原子空孔が導入されていると考えられる。また、中性子小角散乱実験の結果、くびれが始まる約50%を超える塑性ひずみと共に散乱強度が上昇していることから、
mレベルのボイド発生を検出していると考えられる。破壊に至る変形過程の微細構造変化評価手段として、陽電子消滅法と小角散乱法は異なるサイズの欠陥とボイドの情報が観測されており、両手法を用いることの有用性が示された。
