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山下 利之; 大内 金二*; 辻 利秀*; 加藤 徹也*; 落田 学*; 岩下 充成*
Journal of Alloys and Compounds, 271-273, p.400 - 403, 1998/00
被引用回数:4 パーセンタイル:39.22(Chemistry, Physical)(NpU)O(y=0.1,0.2)の電気伝導率()を1000C、酸素分圧10~10Paの範囲で、直流4端子法により測定した。電気伝導率の酸素分圧性は4領域に分割できる。10Pa以下の領域では、は酸素分圧にほとんど依存しない。10~10Pa及び10~10Paの領域では、はそれぞれ、10及び10の傾きで酸素分圧と共に増加する。このことから、これらの領域での主要な格子欠陥種は、それぞれ、Willisの(2:1:2)及び(2:2:2)の複合欠陥であると推定される。10Pa以上の領域では、の増加率は減少する。これらのlog vs.log(PO)曲線の特徴は、UOのものと基本的に同じであることがわかった。電気伝導率の温度依存性から求めた活性化エネルギーは、約0.3eVで、Np濃度に依存しない。