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論文

Diagnostics system of JT-60U

杉江 達夫; 波多江 仰紀; 小出 芳彦; 藤田 隆明; 草間 義紀; 西谷 健夫; 諫山 明彦; 佐藤 正泰; 篠原 孝司; 朝倉 伸幸; et al.

Fusion Science and Technology (JT-60 Special Issue), 42(2-3), p.482 - 511, 2002/09

 被引用回数:6 パーセンタイル:3.03(Nuclear Science & Technology)

JT-60Uの計測診断システムは、約50の計測装置から構成されている。近年、プラズマパラメータの半径方向の分布計測が精度よく行なわれるようになった結果、プラズマの内部構造が明らかになった。また、ミリ波反射計/電子サイクロトロン放射計測により、電子密度/電子温度揺動の測定が行なわれ、プラズマ閉じ込めに関する理解が進展した。さらに、電子温度,中性子発生率,放射パワー,電子温度勾配等の実時間制御実験が、関係する計測装置のデータを利用して行なわれた。これらの計測,及び実時間制御を駆使することにより、高性能プラズマを実現することができた。次期核融合実験炉用計測装置としては、炭酸ガスレーザ干渉計/偏光計,及び協同トムソン散乱計測装置を開発している。

報告書

大口径真空容器内観測窓用Oリング変形測定試験報告

塚原 美光; 閨谷 譲; 砂押 秀則; 蔀 守正; 長島 章

JAERI-Tech 98-004, 20 Pages, 1998/01

JAERI-Tech-98-004.pdf:0.82MB

本試験は大口径観測ガラス窓における新たな真空シールの構造基準をバイトンOリングの潰し代の大気圧による変形量、並びにJT-60Uと同等のベーキングにおけるバイトンOリングの塑性変形量のふたつの点で評価検討し、この構造基準の妥当性を確認するとともに最適なバイトンOリングの断面形状を選定することを目的とした。この構造基準において大気圧による面圧では現在ある全ての真空窓においてギャップが確保できることを確認し、ベーキングにおけるバイトンOリングの塑性変形にも異常の無いことを確認した。

論文

能動粒子線小角散乱測定装置の較正およびJT-60への適用

飛田 健次; 草間 義紀; 根本 正博; 竹内 浩; 伊藤 孝雄; 塚原 美光; 蔀 守正; 渡邊 和弘; 小原 祥裕

核融合研究, 59(SPECIAL ISSUE), p.139 - 156, 1988/00

JT-60の中心イオン温度計測のために、製作し稼動している能動粒子線小角散乱装置(能動的荷電交換粒子計測)の設計の考え方、Heイオン源の開発項目、等並びにこの小角散乱装置をJT-60に応用する際必要となる較正実験結果とJT-60の中心温度測定例について記述した。

論文

JT-60の計測共通設備

木島 滋; 蔀 守正; 中村 幸治; 千葉 真一; 山下 修

核融合研究, 59(SPECIAL ISSUE), p.319 - 328, 1988/00

JT-60の各計測装置に共通して必要となるユーティリティ設備である「計測共通設備」について、設計上の考え方、基本性能及び現在までの稼動状況と問題点などを中心に記述した。本論文は以下の各部から構成される。1.序言、2.概要と基本的な考え方、3.計測用共通真空排気設備、4.結び。この共通設備の概念は、核融合開発の進展に伴ない今後一層重要な役割をもつものと考えられる。

報告書

能動粒子線装置の開発

伊藤 孝雄; 堀池 寛; 松岡 守; 松田 慎三郎; 小原 祥裕; 奥村 義和; 蔀 守正; 竹内 浩; 田中 茂; 塚原 美光; et al.

JAERI-M 86-114, 71 Pages, 1986/08

JAERI-M-86-114.pdf:2.25MB

JT-60プラズマ中心部のイオン温度を計測する能動粒子線法において、使用する中性ヘリウム粒子入射装置(能動粒子線装置)のイオン源には、エネルギ-20keV、ビ-ム電流3.5A,ビ-ムの発散角0.4度以下の性能が要求されている。このようなイオン源は世界的に例がなくイオン源技術の限界に近いものであった。しかし、これは中性粒子入射加熱装置で培った技術の延長線上にあり、開発可能なものと考えられた。昭和55年、計測開発室に協力して設計に着手し、昭和58年 JT-60への据付に先立って、開発を行ないやすくする為 能動粒子線装置を試験室に建設した。昭和60年9月、要求を遥かに上回る性能のイオン源開発に成功した。また、電源の調整試験、ビ-ムラインの性能試験も行ない、本装置を計測器として十分使用に耐えるものに改良した。本報告書では、本装置の設計や試験及び開発の結果について述べる。

報告書

JT-60能動粒子線用電源の構成とサージ電流の抑制

渡部 和弘; 伊藤 孝雄; 金井 丈雄*; 松岡 守; 松田 慎三郎; 蔀 守正; 塚原 美光; 薄井 勝富

JAERI-M 86-104, 53 Pages, 1986/07

JAERI-M-86-104.pdf:2.11MB

JT-60プラズマ中心部のイオン温度測定に能動粒子線計測法が用いられる。能動粒子線源として200keV、3.5A、0.1秒という高エネルギ-でか大電流のヘリウムイオンビ-ム発生装置を開発した。JT-60へ装着するに先立ち、能動粒子線試験室に本装置を建設し開発試験および改良を行なった結果、定格出力のビ-ムを繰り返して安定に得られるようになった。本報告では、まず、本装置の電源システムの構成を示す。次にイオン源放電破壊時に発生するサ-ジ電圧の伝播による電源システムの誤動作に関する防止対策について述べる。さらに、ビ-ムを繰り返し安定に得る為に実施したサ-ジ電流低減策について、サ-ジ測定とシュミレ-ションとの対比を踏まえながら述べる。最後に、JT-60へ装着時のサ-ジ伝播をシュミレ-ションによって検討したので併せて記述する。

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