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中嶋 享*; 寺本 高啓*; 赤木 浩; 藤川 高志*; 間嶋 拓也*; 峰本 紳一郎*; 小川 奏*; 酒井 広文*; 富樫 格*; 登野 健介*; et al.
Scientific Reports (Internet), 5, p.14065_1 - 14065_11, 2015/09
被引用回数:38 パーセンタイル:84.13(Multidisciplinary Sciences)X線自由電子レーザーを利用することで、レーザーによって整列したI分子からのX線光電子回折(XPD)パターンを観測した。X線自由電子レーザーの偏光方向に整列したI分子のXPDは我々の理論計算とよく一致した。さらに、実験で得られるXPDを分子構造決定に利用する際の適応基準を提案した。
久保野 茂*; 寺西 高*; 野谷 将広*; 山口 英斉*; 齋藤 明登*; He, J. J.*; 若林 泰生*; 藤川 尚志*; Amadio, G.*; 馬場 秀忠*; et al.
Nuclear Physics A, 758, p.733 - 736, 2005/07
被引用回数:1 パーセンタイル:14.45(Physics, Nuclear)CRIBからの短寿命核ビームを用いて陽子非弾性散乱を測定した。これにより爆発的水素燃焼過程を理解するうえで重要なにおける共鳴状態の核物理パラメタを求めた。ビームによる非弾性散乱実験の結果も合わせて報告する。
神田 幸則*; 藤川 登*; 河野 俊彦*
JAERI-M 93-205, 52 Pages, 1993/10
Uの非弾性散乱断面積の評価値は、JENDL-3、END F/B-VI、JEF-2、BROND-2、CENDL-2間で相違がある。現状で世界の専門家が共通に納得しうる最良値を求めるための再評価作業が、国際協力で進行中である。本報告書は、既存データファイルの評価値間の相違を比較すると共に、再評価作業のための共通のデータベースを整備するために編集されたものである。