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酒井 卓郎; 岩瀬 康弘*; 山本 幸伍*; 磯山 悟朗*; 奥田 修一*; 大熊 重三*; 西村 榮一*; 佐伯 清*; 小林 明*; 冨増 多喜夫*
Proc. of the 20th Linear Accelerator Meeting in Japan, 0, p.239 - 241, 1995/00
電子加速器で加速されたビームのマイクロパルスの構造を知ることは、加速器内で実際に起っている物理現象を知る上で重要である。しかしながらこのような高速現象を知る手段は限られており、同時に複数のパラメーターを測定することは難しかった。今回、28MeVの電子ビームが鏡面を通過する際に放出される遷移放射の可視部をTVカメラに取り付けた高速時間ゲートイメージインテンシファイヤーを用いて検出して、電子ビームの空間分布とその時間変化をマクロパルス内において測定した。また、45°偏向後のエネルギー分散の生じる場所での測定を行い、マクロパルス内におけるビームのエネルギー変化に関する情報を得ることに成功した。