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論文

Gamma-ray-induced loss of Er$$^{3+}$$-doped silica-core optical fiber

小山 武志*; 道口 信行*; 大木 義路*; 西川 宏之*; 日馬 康雄; 瀬口 忠男

Japanese Journal of Applied Physics, 33(7A), p.3937 - 3941, 1994/07

https://doi.org/10.1143/JJAP.33.3937
 被引用回数：2 パーセンタイル：17.87(Physics, Applied)

エルビウムをドープした光ファイバに$$gamma$$線を照射し、損失の増加を解析した。損失は主としてEr$$^{3+}$$の還元により生成するEr$$^{2+}$$によって誘起されるが、Er$$^{3+}$$の濃度には依存しない。損失の増加はE$$gamma$$センターの生成式から導かれる2つの指数項と1つの直線項により表される。E$$gamma$$センターの生成に関するホールトラッピングが還元を誘起する電子を供給し、損失の増加に重要な役割を果たしていると考えられる。

論文

エルビウムドープ光ファイバにおける$$gamma$$線誘起損失の解析

小山 武志*; 道口 信行*; 西川 宏之*; 大木 義路*; 日馬 康雄; 瀬口 忠男

DEI-93-165, 0, p.11 - 19, 1993/12

希土類元素の一種であるエルビウム(Er)をドープした石英系光ファイバの$$gamma$$線照射による光学的・物理的特性を測定し、損失増加曲線を解して損失のメカニズムを考察した。

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