A New method to analyze density fluctuation by microwave reflectometry

篠原 孝司*; 白岩 俊一*; 星野 克道; 三浦 幸俊; 花田 和明*; 遠山 潤志*; JFT-2Mグループ

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 36(12A), p.7367 - 7374, 1997/12

https://doi.org/10.1143/JJAP.36.7367

反射計は、プラズマ中に入射したマイクロ波がカットオフ密度で反射された波と参照波の位相差の揺動を測定することでカットオフ密度近傍での密度揺動を測定しようというものである。しかし、反射計で測定される位相データはrunaway phaseという現象を示し、位相データをそのまま用いて密度揺動を測定することは困難である。本論文では反射計のrunaway phase現象時に見られる実験事実が密度揺動による散乱で説明できるとするモデルを考案した。このモデルにもとづきrunaway phaseを含んだ反射計のデータの解析法として複素スペクトル、複素相関を提案した。そして、その解析法をJFT-2Mに設置された反射計のデータに適用した。その結果、H-modeにおける揺動の減衰が電場のシアが存在している領域に局在していることがわかった。