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佐久間 隆*; 青山 高志*; 高橋 東之*; 下条 豊; 森井 幸生
Solid State Ionics, 86-88(PT.1), p.227 - 230, 1996/00
中性子回折装置を利用して、粉末状-AgTe試料からの中性子散漫散乱を測定した。原子位置の変位を考慮に入れた結晶構造に基づいた、散漫散乱バックグランドを計算した。その結果、銀原子の変位とテルル原子の変位の間の相関が-AgTeで観測された振動的な散漫散乱に主として寄与していることが判明した。
佐久間 隆*; 青山 高志*; 高橋 東之*; 下条 豊; 森井 幸生
Physica B; Condensed Matter, 213-214, p.399 - 401, 1995/00
被引用回数:12 パーセンタイル:60.2(Physics, Condensed Matter)CuSeの散漫散乱を調べるために、中性子分光器を用いて弾性散乱のみを測定した。その結果、散漫散乱は異常に大きな値を持ち、かつ振動するように変化することが明らかとなった。原子位置の熱的な変化を考慮した解析を行ったところ、振動的な散漫散乱強度を説明するには、最近接の銅とセレン原子の熱的変位が強く相関し合っていることが影響していると判明した。