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高橋 良和; 小泉 徳潔; 布谷 嘉彦; 高谷 芳幸*; 辻 博史
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 12(2), p.1799 - 1803, 2002/06
被引用回数:5 パーセンタイル:35.04(Engineering, Electrical & Electronic)原研はメーカと共同でITERのトロイダル磁場(TF)コイル用NbAl素線を開発してきたが、中心ソレノイド(CS)モデル・コイルを使用して実験されるNbAlインサート・コイル用に、ジェリーロール法による素線を1トン製造した。この素線は、量産を目指した製造技術(品質管理技術を含む)を確立し、それを用いて製造されたものである。この素線の臨界電流値を広い温度範囲(4~15K)と磁場範囲(16Tまで)において測定し、ピンニング力のスケーリング法により、臨界電流値の実験式を導き出した。この式は、ITERの運転温度において、実験結果とよい一致が得られた。よって、この式は、この素線を1152本用いた13T-46kA導体の性能評価及び核融合用超伝導導体の最適設計基準の確立のために有用と考えられる。
寺沢 充水; 三浦 友史; 安藤 俊就; 野沢 正信*; 礒野 高明; 高谷 芳幸*; 辻 博史; 島本 進
ICEC16/ICMC Proceedings, p.1265 - 1268, 1996/00
Void率が32、36、40%とそれぞれ異なるITER用NbSnのCIC縮小導体を製作し、ITERのoperation中、プラズマ・ディスラプションによって引き起こされる磁界変化に対する安定度を実験的に評価した。実験の結果、ITER用導体はプラズマ・ディスラプションによって引き起こされると想定される磁界変化に対して安定であることが推測された。