Application of high-energy photon beam to industrial imaging based on positron annihilation

豊川 弘之*; 平出 哲也; 黒田 隆之助*; 鈴木 良一*; 大平 俊行*

Proceedings of 8th International Topical Meeting on Nuclear Applications and Utilization of Accelerators (AccApp '07) (CD-ROM), p.331 - 335, 2007/00

陽電子消滅を利用した工業製品の最新の非破壊透過診断技術を紹介する。この方法ではレーザー・コンプトン散乱により生成される、高エネルギーの線ビームを用いている。強化コンクリートブロックを用いた実験結果は、この手法が金属を含むような工業製品の非破壊検査方法として優れていることを示している。断層画像診断への利用も行い、試料の断面画像を得ることにも成功した。手法の主な特徴は、直線性に優れたレーザー・コンプトン散乱により生成される高エネルギーの線ビームを試料に入射し、後方に設置した検出器でこのビームの減衰を計測し、試料横方向から試料内部で電子対生成によって形成された陽電子の消滅線の試料内部での減衰を計測する。これを試料をステージうえで移動,回転させ、データを蓄積,解析することで試料を取り囲んだ検出器でないと得られなかったPET(陽電子放出断層)画像を得ることができる。また、この手法により構造物内部の特定部位の陽電子消滅法の適用が可能となり、構造物内部の金属などの欠陥評価等への利用が期待される。