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論文

Correlation between the rhombic distortion of the CuO$$_{4}$$ basal plane and T$$_{c}$$ in La$$_{1.6-x}$$Nd$$_{0.4}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$

小林 淳史*; 小池 洋二*; 片野 進; 舩橋 達; 梶谷 剛*; 川口 勉*; 加藤 雅恒*; 野地 尚*; 齋藤 好民*

Physica B; Condensed Matter, 194-196, p.1945 - 1946, 1994/00

https://doi.org/10.1016/0921-4526(94)91472-9
 被引用回数：6 パーセンタイル：44.48(Physics, Condensed Matter)

La$$_{1.6-x}$$Nd$$_{0.4}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$の低温正方晶相(TLT相)におけるCuO$$_{4}$$面の変形を中性子回折実験により調べた。この結果、斜方晶的変形はx=0.115で最大になることが明らかになった。これは超電導転移温度T$$_{c}$$がこのx=0.115で最低になることとよく対応している。従ってTLT相での超電導の抑制は構造相転移の転移温度の高さ自体よりも、CuO$$_{4}$$面の変形の大きさに依存していると結論できる。

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