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高橋 良和; S.Pourrahimi*; S.P.Smith*; J.V.Minervini*; J.H.Schultz*; Anghel, A.*; Vecsey, G.*; S.Ezekiel*
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 7(2), p.447 - 450, 1997/06
被引用回数:14 パーセンタイル:67.96(Engineering, Electrical & Electronic)ITERタスクの一貫として行われたクエンチ試験(QUELL)は、1/6の縮小導体を約100m用いて、導体がクエンチした時の導体のふるまいを観測し、このデータを用いてコンピュータの解析コードを確立することと、クエンチ検出システムを開発することを目的として、行われた。本論文においては、米国で開発されたクエンチ検出システムの性能について報告する。開発されたクエンチ検出センサーは、導体内温度を測定する光ファイバーと共巻き電圧タップである。これらは、導体の中に入れられた。どちらのセンサーも、大型コイルに要求される性能を満足していることが確認された。しかし、導体からセンサーの取り出し部の構造が、今後に残された問題である。
Anghel, A.*; 高橋 良和; Smith, S.*; Pourrahimi, S.*; Zhelamskij, M.*; Blau, B.*; Fuchs, A.*; Heer, B.*; 濱田 一弥; Fujisaki, H.*; et al.
Fusion Technology 1996, p.185 - 190, 1996/00
ITERタスクの一貫として行われたクエンチ試験(QUELL)は、1/6の縮小導体を約100m用いて導体がクエンチした時の導体のふるまいを観測し、このデータを用いてコンピュータの解析コードを確立することと、クエンチ検出システムを開発することを目的として、行われた。本論文においては、クエンチ時の常伝導部の伝播の結果(伝播速度、温度上昇、圧力上昇等)及びクエンチ検出システムの性能について報告する。