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山内 俊彦; B.Grek*; 星野 克道; B.Leblanc*; D.Johnson*; J.Felt*; 椎名 富雄; 栗田 源一; 石毛 洋一*; 小沢 皓雄
Physics Letters A, 223(3), p.179 - 185, 1996/00
被引用回数：6 パーセンタイル：53.14(Physics, Multidisciplinary)低密度JFT-2Mプラズマの詳細な電子温度分布(空間分布の分解能:0.86cm)がTVトムソン散乱装置(TVTS)を使って測定された。ここではm=2/n=1磁気島の電子温度である平坦な分布が、磁気島のない場合と著しい違いを示している。その他に、m=2/n=1磁気島は局所的なECRH加熱で効率よく抑制されたことが示されている。
白井 浩; 平山 俊雄; 小出 芳彦; 吉田 英俊; 内藤 磨; 佐藤 正泰; 福田 武司; 杉江 達夫; 安積 正史; D.R.Mikkelsen*; et al.
Nuclear Fusion, 34(5), p.703 - 727, 1994/00
被引用回数：7 パーセンタイル：31.22(Physics, Fluids & Plasmas)JT-60及びTFTRでは、中性粒子入射(NBz)加熱時に荷電交換再結合分光(CXRS)によりイオン温度分布が測定されている。このイオン温度分布の実験値と、イオン温度勾配不安定性(
モード)及びドリフト波不安定性(捕捉電子モード等)に基づくイオン熱拡散係数
のモデルを用いて計算で得られた分布を比較した。JT-60のLモードプラズマでは広範囲なプラズマパラメータ領域において実験値と計算値は良い一致を示した。TFTRのLモードプラズマでは、プラズマの周辺領域において計算値は実験値よりも高くなった。プラズマの中心イオン温度が10keVを超える高イオン温度モードプラズマでは、イオン温度の分布は実験のそれに比べると平坦で、かつ中心イオン温度もかなり低いものになった。高イオン温度モードプラズマでは、これらの不安定性の安定化機構や他の輸送機構(熱ピンチ等)を考慮する必要がある。
