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石川 法人; Van der Beek, C. J.*; Dunlop, A.*; Jaskierowicz, G.*; Li, M.*; Kes, P. H.*; Della-Negra, S.*
Journal of the Physical Society of Japan, 73(10), p.2813 - 2821, 2004/10
被引用回数:2 パーセンタイル:19.85(Physics, Multidisciplinary)30MeV CフラーレンビームをBiSrCaCuO単結晶試料に照射し、試料表面200nmの深さまで20nm直径のトラックを形成した。照射により、臨界電流密度の向上を見いだした。照射された試料は、未照射試料の特徴である磁束液体-固体相転移と単原子イオン照射された試料だけの特徴であるBose Glass転移の両方の特徴を併せ持つ特異な磁束相図を示すことがわかった。