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論文

The Effects of alloying and segregation for the reactivity and diffusion of oxygen on Cu$$_{3}$$Au(111)

岡 耕平*; 津田 泰孝*; 牧野 隆正*; 岡田 美智雄*; 橋之口 道宏*; 吉越 章隆; 寺岡 有殿; 笠井 秀明*

Physical Chemistry Chemical Physics, 16(36), p.19702 - 19711, 2014/08

 被引用回数:11 パーセンタイル:40.33(Chemistry, Physical)

Oxidation of Cu$$_{3}$$Au(111) by a hyperthermal O$$_{2}$$ molecular beam was investigated by synchrotron X-ray photoemission spectroscopy. From the incident-energy dependence of O-uptake curve, dissociative adsorption of O$$_{2}$$ is less effective on Cu$$_{3}$$Au(111) than on Cu(111). The dissociative adsorption is accompanied by the Cu segregation on Cu$$_{3}$$Au(111) as well on Cu$$_{3}$$Au(100) and Cu$$_{3}$$Au(110). Obvious growth of Cu$$_{2}$$O cannot be observed at incident energy of 2.3 eV and it suggests that Au-rich layers prevent the diffusion of O atoms into bulk. Density functional theory calculations indicate that O adsorption shows same behavior on Cu$$_{3}$$Au(111) and on Cu(111). The barrier of diffusion into subsurface in segregated Cu$$_{3}$$Au(111) is higher than that of Cu(111). It indicates that segregated Au-rich layer works as a protective layer.

論文

Initial stages of Cu$$_{3}$$Au(111) oxidation; Oxygen induced Cu segregation and the protective Au layer profile

津田 泰孝*; 岡 耕平*; 牧野 隆正*; 岡田 美智雄*; Di$~n$o, W. A.*; 橋之口 道宏*; 吉越 章隆; 寺岡 有殿; 笠井 秀明*

Physical Chemistry Chemical Physics, 16(8), p.3815 - 3822, 2014/02

 被引用回数:14 パーセンタイル:49(Chemistry, Physical)

We report results of our experimental and theoretical studies on the Au concentration profile of Cu$$_{3}$$Au(111) during oxidation by hyperthermal O$$_{2}$$ molecule beam at room temperature, using X-ray photoemission spectroscopy, in conjunction with synchrotron radiation, and density functional theory. Before O$$_{2}$$ exposure, we observe strong Au segregation to the top layer, i.e., Au surface enrichment of the clean surface. We also observe a gradual Cu surface enrichment, and Au enrichment of the second and third (subsurface) layers, with increasing O coverage. Complete Cu segregation to the surface occurs at 0.5 ML O surface coverage. The Au-rich second and third layers of the oxidized surface demonstrate the protective layer formation against oxidation deeper into bulk.

論文

Temperature dependence of Cu$$_{2}$$O formation on Cu$$_{3}$$Au(110) surface with energetic O$$_{2}$$ molecular beams

橋之口 道宏*; 吉越 章隆; 寺岡 有殿; 岡田 美智雄*

Applied Surface Science, 287, p.282 - 286, 2013/12

 被引用回数:6 パーセンタイル:29.39(Chemistry, Physical)

We study the surface temperature ($$T$$$$_{rm s}$$) dependence of oxidation on Cu$$_{3}$$Au(110) induced by a hyperthermal O$$_{2}$$ molecular beam (HOMB). The dissociative adsorption of O$$_{2}$$ proceeds accompanying with Cu segregation. From the Ts dependence of the O uptake curve, the direct dissociative adsorption process is a dominant process at less than O coverage ($$Theta$$) of 0.2 ML for the 2.2 eV HOMB incidence. At high $$Theta$$, the oxidation, in particular, the Cu$$_{2}$$O formation, depends on $$T$$$$_{rm s}$$. The high $$T$$$$_{rm s}$$ causes the efficient Cu segregation on the surface during the oxidation, suggesting the dominant role of Cu migration in the Cu$$_{2}$$O formation.

論文

Oxidation of TiAl surface with hyperthermal oxygen molecular beams

橋之口 道宏*; 戸出 真由美*; 吉越 章隆; 寺岡 有殿; 岡田 美智雄*

Applied Surface Science, 276, p.276 - 283, 2013/07

 被引用回数:4 パーセンタイル:20.56(Chemistry, Physical)

Detailed studies on the initial oxidation processes of TiAl with a 2 eV hyperthermal oxygen molecular beam and thermal O$$_{2}$$ in the backfilling. The oxidation processes are monitored by X-ray photoemission spectroscopy measurements in conjunction with synchrotron radiation. Oxidation of both Al and Ti occurs during the oxidation. The incident-energy and surface-temperature dependences of oxidation reveal that the precursor-mediated dissociative adsorption is the dominant initial step in the thermal O$$_{2}$$ backfilling. Thus, the efficiency of oxidation is higher for the thermal O$$_{2}$$ backfilling than for the molecular beam dose. The result is quite different from that on TiNi where the molecular beam dose has the advantages in the oxide layer growth at high O coverage. We succeeded in fabricating blue-colored TiO$$_{2}$$ and Al$$_{2}$$O$$_{3}$$ containing layers, combining molecular beam and surface annealing.

論文

The Temperature dependence of Cu$$_{2}$$O formation on a Cu(110) surface with an energetic O$$_{2}$$ molecular beam

橋之口 道宏*; 吉越 章隆; 寺岡 有殿; 岡田 美智雄*

Journal of Physics; Condensed Matter, 24(39), p.395007_1 - 395007_8, 2012/10

 被引用回数:5 パーセンタイル:23.98(Physics, Condensed Matter)

We report a study of the surface temperature (Ts) dependence of Cu$$_{2}$$O formation on a Cu(110) surface induced by a hyperthermal O$$_{2}$$ molecular beam (HOMB), using X-ray photoemission spectroscopy in conjunction with synchrotron radiation. From the Ts dependence of the O uptake curves, the direct dissociative adsorption process mainly contributes to the formation of the p(2$$times$$1)-O structure with an O coverage of 0.5 ML for 2.2 eV HOMB incidence. On the other hand, the rate of oxidation at the coverage larger than 0.5 ML, particularly in Cu$$_{2}$$O formation, strongly depends on the Ts. Thicker Cu$$_{2}$$O islands were found in homogeneously at 400 and 500 K, suggesting the dominant role of the migration of Cu atoms in the Cu$$_{2}$$O formations on the Cu(110) surface.

論文

TiAl表面酸化のシンクロトロン放射光を用いた光電子分光研究

橋之口 道宏*; 角本 雄一*; 戸出 真由美; Harries, J.; 岡田 美智雄*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

電気学会論文誌,C, 130(10), p.1723 - 1729, 2010/10

2.2eVという超熱エネルギー領域の並進運動エネルギーを持った酸素分子線(HOMB)を照射してTiAl表面の酸化過程を放射光光電子分光法で研究した。表面温度が300Kのときには、表面近傍でAl$$_{2}$$O$$_{3}$$の偏析を伴ってTi酸化物とAl酸化物が同時に成長した。HOMBを入射した場合の酸化の効率は25meVのエネルギーを持つ酸素分子をバックフィリングで供給した場合に比べて小さい。さらに、TiAl表面に形成される酸化物の化学組成(Al$$_{2}$$O$$_{3}$$, Ti$$_{2}$$O$$_{3}$$, TiO$$_{2}$$)は入射酸素分子線の並進運動エネルギーに依存しなかった。今回の結果はTiAl表面の酸化が前駆的分子吸着状態を経由して進行することを示唆している。

論文

Stereodynamics in dissociative adsorption of NO on Si(111)

橋之口 道宏*; 岡田 美智雄*; 伊藤 裕規*; 笠井 俊夫*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿

Physical Review Letters, 100(25), p.256104_1 - 256104_4, 2008/06

 被引用回数:16 パーセンタイル:65.76(Physics, Multidisciplinary)

X線光電子分光法を用いてSi(111)-(7$$times$$7)表面でのNO分子の解離性吸着過程に対する立体効果の表面温度依存性について研究した結果を報告する。ここでのデータは58meVの入射エネルギーではN端衝突の方がO端衝突よりも反応確率が大きいことを示している。さらに、この立体効果は表面温度と被覆率に非常に敏感である。これらの事実はNO分子が狭い前躯状態に過渡的にトラップされることがSi(111)-(7$$times$$7)表面でのNOの分解の初期段階で重要な役割を担っていることを示唆している。

論文

New oriented-molecular-beam machine for surface stereochemistry with X-ray photoemission spectroscopy

岡田 美智雄*; 橋之口 道宏*; 盛谷 浩右*; 笠井 俊夫*; 寺岡 有殿

Japanese Journal of Applied Physics, 47(5), p.3686 - 3691, 2008/05

 被引用回数:5 パーセンタイル:22.74(Physics, Applied)

不均一電場中での分子のシュタルク効果に基づいた配向分子ビーム技術は表面反応の立体化学的制御を実現するための潜在的道具と言える。この技術は回転量子状態の選別を可能とし、また、その反応分子の配向の制御を可能とする。われわれは新しい超高真空対応の配向分子ビーム装置を製作した。この装置にはX線光電子分光(XPS)のための器材が具備され、表面反応生成物の検出ができる。Si(111)表面でのNO分子の解離性吸着では化学反応性に立体効果を見いだした。入射エネルギーが58meVでは、N端衝突の方がO端衝突よりも反応性が大きい。われわれの知る限り、この結果は表面での反応生成物で見た立体効果の最初の測定である。

論文

Dissociative adsorption of nitric oxide on Si(111)-(7$$times$$7) surface

橋之口 道宏*; 伊藤 裕規*; 寺岡 有殿; 盛谷 浩右*; 岡田 美智雄*; 笠井 俊夫*

Japanese Journal of Applied Physics, 47(3), p.1672 - 1676, 2008/03

 被引用回数:4 パーセンタイル:18.78(Physics, Applied)

Si(111)-7$$times$$7表面でのNO分子の解離性吸着を330Kから600Kの表面温度で光電子分光法で研究した。Si(111)-7$$times$$7表面でのNOの解離性吸着が温度に大きな依存性を持つことがNO供給量の関数としてのN原子とO原子の吸着曲線から示唆された。表面温度が高くなるにつれてNOの解離性吸着の速度は減少した。これは前躯体の存在を表している。加えて、表面でのN/O比が330Kでは1.0であったが、600Kでは1.2になった。この表面温度とともにN/O比が増加するということは、もうひとつの反応経路が高温で開けることを示唆している。

論文

Protective layer formation during oxidation of Cu$$_{3}$$Au(100) using hyperthermal O$$_{2}$$ molecular beam

岡田 美智雄*; 橋之口 道宏*; 福岡 正幸*; 笠井 俊夫*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿

Applied Physics Letters, 89(20), p.201912_1 - 201912_3, 2006/11

 被引用回数:25 パーセンタイル:64.91(Physics, Applied)

超熱酸素分子ビームを用いたCu$$_{3}$$Au(100)の酸化について放射光X線光電子分光によって調べた。酸素の吸着曲線の運動エネルギー依存性から、金の合金化によって酸素分子の解離性吸着が高い活性化障壁を持つこと、それゆえに反応性が低いことがわかった。解離性吸着は表面での銅の偏析を伴う。2eVの運動エネルギーの酸素分子でさえもCu$$_{2}$$Oの目立った成長は見られなかった。このことは銅の金合金化がバルク領域への酸化進行に対して阻害層として作用することを表している。

報告書

六極不均一電場法によるアセトニトリル分子の回転量子状態選別(協力研究)

橋之口 道宏*; 岡田 美智雄*; 笠井 俊夫*; 盛谷 浩右; 寺岡 有殿

JAEA-Research 2005-002, 16 Pages, 2006/01

JAEA-Research-2005-002.pdf:0.91MB

固体表面における化学反応において、飛来分子のもつエネルギーの散逸過程をはじめとする表面動的過程が重要である。これらの過程を精密に探索するには、分子を6次元的に制御可能な配向分子線法が非常に有効である。われわれの研究グループでは、六極電場法を用いた超高真空対応配向分子線装置を開発してきた。今回われわれは、当該装置を用いアセトニトリル(CH$$_{3}$$CN)分子の回転状態選別を行った。実験により得られた集束曲線は、六極不均一電場内での2次のシュタルク効果を含めた分子軌道シミュレーションとよく一致した。期待されるCH$$_{3}$$CN分子の配向分布は、表面反応における衝突幾何構造制御が可能であることを示唆している。

論文

Full characterization of an intense pulsed hyperthermal molecular beam

渡辺 大裕*; Che, D.-C.*; 福山 哲也*; 橋之口 道宏*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

Review of Scientific Instruments, 76(5), p.055108_1 - 055108_5, 2005/05

 被引用回数:6 パーセンタイル:33.46(Instruments & Instrumentation)

強いパルス超熱分子ビームを得るための分子ビーム技術が開発された。そのビーム源はパルスバルブ,冷却水管(これは高温ノズルからの伝熱からパルスバルブを保護する),ヒーター付きのノズルから構成される。実際にHCl分子のパルスHTMBが生成されて、その特徴が(2+1)共鳴増感多光子イオン化法と生成イオンの飛行時間分析によって評価された。

口頭

Stereodynamics of surface chemical reactions on silicon

岡田 美智雄*; 後藤 征士郎*; 橋之口 道宏*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

no journal, , 

われわれは新たに超高真空対応の配向分子ビーム装置を開発した。この装置を用いてSi(100)表面でのCH$$_{3}$$Cl分子の解離吸着における立体効果の入射エネルギー及び表面温度依存性を報告する。所期吸着確率はキングとウェルスの方法によって測定した。そのデータから初期吸着確率は塩素端からの衝突の方がメチル端からの衝突の場合より120meVの運動エネルギーの時には大きいことがわかった。さらに、この立体効果はCH$$_{3}$$Cl分子の入射エネルギーと回転状態、及び、表面温度に敏感である。この研究から非平衡表面トラッピングがSi(10)上でのCH$$_{3}$$Cl分子の解離の初期段階で鍵になる役割を果たしていることがわかった。また、われわれはNO分子のSi(111)表面での反応について現在進行している実験についても報告する。N端からの衝突した方が解離吸着しやすい。

口頭

NO/Si(111)7$$times$$7解離吸着反応における分子立体効果

橋之口 道宏*; 盛谷 浩右*; 岡田 美智雄*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

no journal, , 

固体表面における化学反応において、飛来分子の持つエネルギーの散逸過程を始めとする表面動的過程が重要である。そのため、表面に入射する分子の配向は、反応速度や反応生成物の組成に大きく影響することが期待される。そこで、本研究では、配向分子ビーム法とX線光電子分光測定による反応生成物直接観測をもちいて、NO/Si(111)-7$$times$$7系の表面反応ダイナミクスについて調べた。基板温度400Kにおいて、ビーム照射に対するO1s及びN1sのuptake測定をした結果、NO分子はN原子端及びO原子端からの衝突に関してどちらも解離吸着過程を示したが、N端からの衝突での反応性が優位である結果が得られた。

口頭

Dynamic steric effect in silicon chemistry

橋之口 道宏*; 岡田 美智雄*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

no journal, , 

表面に入射する分子の配向は表面化学において重要な役割を演じると期待されている。分子の配向効果(立体効果)を明らかにするために、われわれは超高真空対応の配向分子ビームラインを開発し、Si表面での反応研究に適用した。CH$$_{3}$$Cl/Si(001)-2$$times$$1系の立体効果についてはキング&ウェルス法で研究した。この場合には非平衡の表面トラッピングが解離吸着の鍵になることが見いだされた。さらに、X線光電子分光を用いた新しい方法でNO/Si(111)-7$$times$$7系を研究した。その結果25から78meVの範囲で前駆体を経由した解離吸着が起こること、反応確率はO端よりN端からの衝突で大きいことが見いだされた。この結果は入射NO分子の運動エネルギーがO端衝突よりN端衝突でさらに失われやすいことを意味している。

口頭

Si(111)表面上でのNO解離吸着過程における分子配向効果の解明

橋之口 道宏*; 岡田 美智雄*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

no journal, , 

われわれは、NO分子の持つ並進エネルギーや内部状態がSi表面での酸窒化過程にどのような影響をもたらすのかに着目した。特に表面に衝突する際のNO分子の配向は、酸窒化反応の速度や反応生成物の組成に大きく影響することが予想されるが、これまで分子配向に依存する表面反応生成物を直接観察して反応過程を評価した研究例はない。そこで、配向分子ビーム法並びにX線光電子分光法を組合せて、Si(111)表面における解離吸着反応に対する分子配向効果を調べた。Si(111)清浄表面は、Arイオンスパッタリングと加熱を繰り返して作製した。六極不均一電場法により回転状態J$$Omega$$Mがそれぞれ1/2の状態を選別したNO分子ビーム(衝突エネルギー:0.058eV)を400KのSi表面に照射し、反応後の表面組成をXPSにより測定した。分子配向はサンプル直前に配置した配向電場の極性を変化させることにより制御した。N端からの衝突の方がO端からよりも解離吸着反応が効率よく進むことがわかった。

口頭

シリコン表面の立体化学反応ダイナミクス

岡田 美智雄*; 橋之口 道宏*; 福山 哲也*; 寺岡 有殿; 笠井 俊夫*

no journal, , 

永久双極子モーメントを持つNO, CH$$_{3}$$Cl分子の超音速分子線を不均一電場に通すことによって分子の配向を制御した超音速分子線を生成した。それをSi(111)面とSi(001)面に照射して解離吸着反応を起こさせ、その反応性に対する分子配向の効果を研究した。CH$$_{3}$$Cl分子とSi(001)表面の反応ではKing-Wells法を用いて付着確率を評価し、Cl端から衝突した方が反応性が高いことを明らかにした。また、NO分子とSi(111)表面の反応では光電子分光法で表面の元素を評価し、N端から衝突した方が反応性が高いことを明らかにした。

口頭

Stereodynamics of NO dissociative adsorption on Si(111)-(7$$times$$7) surface

橋之口 道宏*; 伊藤 裕規*; 寺岡 有殿; 盛谷 浩右*; 岡田 美智雄*; 笠井 俊夫*

no journal, , 

Si(111)-7$$times$$7表面におけるNO分子の解離吸着に対する分子配向効果を研究した。X線光電子分光を適用するために設計した配向分子線装置を用いた。運動エネルギーが58meVの状態選別したNO分子線を400KのSi表面に照射し、酸素と窒素の吸着状態をO1sとN1sの光電子スペクトルとして分析した。N端からの衝突の方が解離吸着した酸素原子の収率が大きいことがわかった。また、ランダム配向のNOの反応では酸素原子の収率はN端衝突とO端衝突の中間となる。よってN端衝突の方がO端衝突に比べてより化学反応性が高いと結論した。

口頭

Stereodynamics of chemical reactions in heterogeneous systems; Dissociative adsorption of NO on Si(111)

橋之口 道宏*; 岡田 美智雄*; 伊藤 裕規*; 笠井 俊夫*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿

no journal, , 

われわれは最近Si(111)-7$$times$$7表面でのNO分子の解離性吸着において、配向分子線とX線光電子分光を用いて立体効果を観測した。58meVの並進運動エネルギーのNO分子のうち(1/2,1/2,1/2)状態を選別してSi(111)表面に照射した。吸着種はXPSで分析した。反応はO端衝突よりN端衝突の方が起こりやすいことがわかった。その立体効果は600Kでは非常に小さくなった。この結果は狭い前躯体状態での一時的なトラップがこの表面反応の立体ダイナミクスにおいて鍵となる役割を担っていることを表している。

口頭

Chemical reactions dynamics; From atomic level to global view

笠井 俊夫*; 橋之口 道宏*; 岡田 美智雄*; 伊藤 裕規*; 盛谷 浩右*; 寺岡 有殿

no journal, , 

化学反応を原子分子レベルで理解するために、反応分子の立体効果、あるいは、分子配向効果を研究することは非常に重要である。最近Si(111)-7$$times$$7表面にNO分子が解離吸着する反応において、NO分子の配向効果をX線光電子分光による表面分析によって見いだした。N端衝突の方がO端衝突より反応性が大きい。その傾向は表面温度に依存する。NO分子が一時的にSi(111)表面にトラッピングされることを示唆する結果を得た。

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