中性子断層撮影法を用いたイオン伝導性酸化物焼結体中の電場形成の可視化

林 光彦*; 高井 茂臣*; 坂口 裕樹*; 松林 政仁; 江坂 享男*

可視化情報学会誌, 20(suppl.1), p.375 - 376, 2000/07

中性子断層撮影法(CT)を用いたリチウムイオン伝導体中のリチウムイオンの分布を測定した。実験にはスピネル型構造を持つLiTiOを用いた。Liのみを含む円柱状試料とLiのみを含む円柱状試料を組み合わせた面接触電界試料及びLiのみを含む円錐状試料と組み合わせた点接触段階試料をLiのみを含む円柱状試料をカソード側として電気炉中で電解して製作した。電解終了後、カソード側の円柱状試料に対して中性子CTを行った。その結果Liイオンは、点接触電解試料では試料の中心部分にのみ侵入していること、面接触電解した試料では試料全体にわたっと侵入していることが確認された。また点接触電解試料の断層像の濃度プロファイルから、試料中に形成される電場は通常の金属導体中の電場と同様に形成されることが示された。