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佐々木 貞吉; R.S.Williams*; J.S.Wong*; D.A.Shirley*
Journal of Chemical Physics, 71(11), p.4601 - 4610, 1979/00
被引用回数:22NaClO,LiClO,LiBrOおよびLiIOを1.4keV電子線で照射し生成物等をXPSで検討した。LiIOは電子線照射に対しきわめて安定である一方、他の3化合物はXO,XO,X(X=Cl、Br),O等に放射線分解される。さらに重照射ではアルカリハライド、アルカリ金属酸化物、捕捉電子、Xの生成を認めることができた。これらの化学種の生成過程を明らかにするとともに、線、X線による放射線損傷との違い、捕捉電子のFセンターとしての特異性などを論じた。
佐々木 貞吉; R.S.Williams*; J.S.Wong*; D.A.Shirley*
Journal of Chemical Physics, 68(6), p.2718 - 2724, 1978/06
被引用回数:48固体表面層(~25の放射線損傷をX線電子分光法(XPS)により調べその放射線化学的な有用性について検討した。実験には高純度LiNOおよびLiSO単結晶を用い、高真空下(410Torr以下)で0.3~1.6keV電子線を照射した。結晶表面層の生成物をXPSで調べたところ、被照射LiNOではLiNO,LiOなどがまた被照射LiSOではLiSO,S,LiS,LiO,吸着酸素などが認められた。なおLiSOを重照射すると最終的にはLiSおよびLiOのみになる。また1.4keV電子線の「differential energy loss」より分解量および生成物収量を見積り10~10のG値をえた。