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加田 渉; 佐藤 隆博; 牧野 高紘; 小野田 忍; 江夏 昌志; 大島 武; 神谷 富裕; Grilj, V.*; Skukan, N.*; Jaksic, M.*
KEK Proceedings 2012-8, p.89 - 98, 2012/12
数100MeV級重イオンの個別照射(シングルイオンヒット)の位置を高精度に評価できるリアルタイム検出技術として、透過型粒子検出器の開発を行った。現装置で高エネルギー重イオン大気取出窓材料として用いられている窒化ケイ素薄膜と同等の機械的強度を持ち、同時に検出器材料として利用できる50mまでの膜厚の多結晶及び単結晶CVDダイヤモンド薄膜を利用し2種類の透過型検出器を開発した。 線源及びマイクロビームラインを用いた照射環境においてMeV級の高エネルギーイオンの透過で薄膜内部に生成される電子正孔対を計測することで、開発された透過型薄膜ダイヤモンド検出器を評価した。
Skukan, N.*; Grilj, V.*; Pomorski, M.*; 加田 渉*; 岩本 直也*; 大島 武; 神谷 富裕; Jaksic, M.*
no journal, ,
In order to develop diamond thin film detectors, an approximately 6 m thick membrane which was made of low cost optical quality scCVD diamond material was fabricated. The membrane was mounted to a flange as a vacuum exit window and characterized as a particle detector. The negligible intrinsic noise of the device provides an excellent signal-to-noise ratio, even for energetic proton incidence. Besides, the outstanding results of the radiation-hardness test indicate a wider possible range of device applications, including those that involve high currents of charged particles or long exposure to radiation.