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渡部 創; 片井 雄也*; 松浦 治明*; 加田 渉*; 江夏 昌志*; 佐藤 隆博*; 新井 剛*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 450, p.61 - 65, 2019/07
被引用回数：2 パーセンタイル：23.19(Instruments & Instrumentation)Ion-beam induced luminescence (IBIL) analysis on MA recovery adsorbent was performed to give chemical states of complexes formed in the adsorbent as fundamental information for process design, and EXAFS analysis was also carried out to support discussions. The IBIL spectra of the binary extractants system seemed to be superposition of individual ones, however it has also original peaks. As intensities of those peaks rapidly decreased with iteration time of measurements and the original peaks were not observed for the adsorbent without charging Eu(III), they were attributed to complexes of Eu(III) with organic compounds. Contributions of CMPO and HDEHP extractants for Eu(III) extraction must be not only individual ones but also cooperative.
片井 雄也*; 渡部 創; 佐野 雄一; 安倍 諒治*; 櫻井 智明*; 新井 剛*; 内山 孝文*; 松浦 治明*
no journal, ,
吸着材中に捕捉されたユウロピウムが溶離条件の相違によりどのように構造変化するか広域X線吸収微細構造により評価した。
櫻井 智明*; 安倍 諒治*; 片井 雄也*; 松浦 治明*; 新井 剛*; 渡部 創; 佐野 雄一; 竹内 正行
no journal, ,
既往の研究成果より、抽出剤含浸吸着材であるCMPO-HDEHP吸着材は、協同抽出効果を発現することが明らかとなっている。また、CMPO-HDEHP吸着材に抽出された金属イオンの溶離は困難であり効果的な溶離剤の選定には至っていない。そこで本研究では、効果的な溶離剤の選定のため詳細に検討を行った。本研究では、新規の溶離液としてNa
(CH
O(COO))溶液を選定し溶離試験を行い、Ndの回収率80%を達成した。
片井 雄也*; 松浦 治明*; 安倍 諒治*; 櫻井 智明*; 新井 剛*; 渡部 創; 佐野 雄一; 竹内 正行
no journal, ,
CMPO-HDEHP吸着材中に捕捉されたユウロピウムが溶離条件の相違によりどのように構造変化するか広域X線吸収微細構造により評価した。pHの違いによりEuまわりの局所構造が明確に変化していることが確認できた。フィッティング解析によると、pH1付近においては配位数が大きく(9付近)、pHが2に近づくにつれて徐々に配位数が下がり、それ以上では配位数が6になる傾向が見られた。これはpH1付近ではCMPOが主に配位に預かり、pHが大きくなるにつれHDEHPと入れ替わり、pH2以上ではHDEHPにEuが配位していることを示唆しているものである。
片井 雄也*; 松浦 治明*; 安倍 諒治*; 櫻井 智明*; 新井 剛*; 渡部 創; 佐野 雄一; 竹内 正行
no journal, ,
CMPO及びHDEHP抽出剤を含浸させた吸着材中に形成されるEu錯体について、XAFSを用いた構造解析を実施し、溶離液の変化に伴う抽出剤の寄与の違いについて考察した。溶離液との接触に伴って、CMPOの寄与が小さくなり、HDEHPの寄与の割合が大きくなること、またEu周りの最近接O原子数が減少することが明らかになった。
渡部 創; 加田 渉*; 片井 雄也*; 松浦 治明*; 江夏 昌志*; 佐藤 隆博*; 新井 剛*
no journal, ,
抽出クロマトグラフィ法によるMA回収技術のために開発している、CMPOおよびHDEHPを含浸させた吸着材内部で形成される錯体形成メカニズムの解明のため、XAFSを用いた評価を実施してきた。本研究では、吸着材のIBIL分光を実施し、XAFS解析結果と組み合わせた評価を試みた。XAFS測定より確認したHDEHP抽出剤の錯形成への寄与の増加に起因して、IBILスペクトルに変化が現れることを見出した。
