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曽田 一雄*; 原田 翔太*; 林 利光*; 加藤 政彦*; 石川 文洋*; 山田 裕*; 藤森 伸一; 斎藤 祐児
Materials Transactions, 57(7), p.1040 - 1044, 2016/06
被引用回数:2 パーセンタイル:11.18(Materials Science, Multidisciplinary)The electronic states of Heusler(L21)-type off-stoichiometric FeV
Al have been investigated by soft X-ray angle-resolved photoelectron spectroscopy (ARPES) in order to clarify the origin of their large thermoelectric powers, which cannot be explained in terms of the rigid band model. In off-normal and normal ARPES, Fe
V
Al shows a weakly dispersive bulk band around the binding energy of 0.3 eV in the
-X direction and an almost dispersion-less one around 0.3 eV in a gap of dispersive bulk bands in the
-L direction, which is attributed to the anti-site Fe defect. At the
point, the bulk band does not appear to cross the Fermi level
, consistent with the rigid band model for the excess Fe content bringing about the increase in the valence electrons, but no band crossing
down is found at the X point. The anti-site Fe defect states near
might push up the band at the X point and cause the p-type thermoelectric properties, unexpected with the rigid band picture. The change in the electronic structures and thermoelectric properties are discussed on the off-stoichiometry and substitution of the forth element.
小池 文博*; 舟場 久芳*; 後藤 基志*; 加藤 太治*; 加藤 隆子*; 森田 繁*; 村上 泉*; 坂上 裕之*; 須藤 滋*; 鈴木 千尋*; et al.
AIP Conference Proceedings 1545, p.202 - 211, 2013/07
被引用回数:4 パーセンタイル:82.59(Physics, Applied)多電子,多価イオンを含むプラズマの状態の理解のために重要となる、原子番号が50から80までの原子の多価イオンのエネルギー準位や遷移確率について議論する。これらの原子データに関する理論計算の現状について述べる。また、W, Gd, Ndイオンの分光計測や、その結果の理論解析についても述べる。
森田 繁*; Dong, C. F.*; 後藤 基志*; 加藤 太治*; 村上 泉*; 坂上 裕之*; 蓮尾 昌裕*; 小池 文博*; 中村 信行*; 大石 鉄太郎*; et al.
AIP Conference Proceedings 1545, p.143 - 152, 2013/07
被引用回数:30 パーセンタイル:99.16(Physics, Applied)核融合科学研究所のLHD装置、コンパクトEBIT(CoBit)装置において、タングステンプラズマの可視、EUV領域での分光計測を行なった。CoBITで得られた価数分離スペクトルを用いて、LHDのスペクトルの解析を行なった。衝突輻射モデルを用いた詳しい解析を行い、また、高価数のイオンのEUVスペクトルの径方向分布の計測と、ADPAKデータベースを使った輸送コードの計算を行い、プラズマ中のイオンの分布や、プラズマ中の電離、再結合レートについて検討した。不純物ペレットの可視光領域の発光スペクトルの解析を、多価イオンの診断に応用する手法についても議論する。
西原 功修*; 砂原 淳*; 佐々木 明; 沼波 政倫*; 田沼 肇*; 藤岡 慎介*; 島田 義則*; 藤間 一美*; 古河 裕之*; 加藤 隆子*; et al.
Physics of Plasmas, 15(5), p.056708_1 - 056708_11, 2008/00
被引用回数:133 パーセンタイル:97.63(Physics, Fluids & Plasmas)Extreme ultraviolet (EUV) radiation from laser-produced plasma (LPP) has been thoroughly studied for application in mass-production of the next generation semiconductor devices. One critical issue for realization of a LPP-EUV light source for lithography is the conversion efficiency (CE) from incident laser power to EUV radiation of 13.5 nm wavelength (within 2% bandwidth). Another is solving a problem of damage caused by debris reaching a EUV collecting mirror. We here present an improved power balance model, which can be used for the optimization of laser and target conditions to obtain high CE. An integrated numerical simulation code has been developed for target design. The code is shown to agree well with experimental results not only for the CE but also for detailed EUV spectral structure. We propose a two pulse irradiation scheme for high CE and reduced ion debris using a carbon dioxides laser and a droplet or punch-out target.
加藤 小織; 春日井 好己; 西藤 文博; 伊藤 崇; 田中 武志*; 菅原 正克*; 沼尻 正晴*; 別所 光太郎*; 中根 佳弘; 宮本 幸博
no journal, ,
J-PARCにおいて、2013年5月に発生した「放射性物質漏えい事故」を風化させず、得られた教訓を次の世代に確実に引き継ぐとともに、今後の安全対策に生かすことを目的として、これまでに3本のビデオを製作した。ビデオの上映時間は何れも15分程度で、事故後、毎年5月下旬に開催しているJ-PARC「安全の日」において上映を行っている。今後も、J-PARCにおける安全文化の育成及び継承に活用していく予定である。
内藤 涼*; 加藤 史大*; 新井 剛*; 薄井 茜; 大西 貴士; 田中 康介; 松倉 実*; 三村 均*
no journal, ,
Cs(I)を吸着したChabazite型ゼオライト(IE-96: ユニオン昭和製)の処理法として、ガラスを添加剤とした焼結固化技術に着目した。本研究では、焼結固化技術に用いるガラスの種類を検討した。
加藤 小織; 春日井 好己; 西藤 文博; 増川 史洋; 沼尻 正晴*; 中村 一*; 山崎 寛仁*; 斎藤 究*; 藤原 一哉*
no journal, ,
J-PARCセンター発足以降、施設整備の進捗とともに、日本語を母国語としない海外からの研究者の数は増加してきた。放射線安全(一般安全を含む)に関しても、外国人研究者と日本人研究者が同レベルの理解のもと、実験を安全に進められる環境を整備する必要がある。そこで放射線安全等に関する英語対応体制を系統的に整備するためのワーキンググループを2014年に立ち上げ活動している。本ワーキンググループでは、日本語の非論理性や説明不足を補いながら、もともとの日本語にこだわらず説明を付け加えたり、場合によっては省いたりして、日本語とは全く別の英語としての資料・教材等を独自に作り上げている。