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大宅 薫*; 井内 健介*; 菊原 康之*; 仲野 友英; 河田 純*; 川染 勇人*; 上田 良夫*; 田辺 哲朗*
Journal of Plasma and Fusion Research SERIES, Vol.8, p.419 - 424, 2009/09
CH, CH及びCHのプラズマ対抗壁近傍での輸送と再たい積をEDDYコードを用いて調べた。計算結果では、CH及びCHはCHと比較して発生場所の近傍に再たい積することが示された。これはJT-60Uでの分光測定結果と定性的に一致する。また、EDDYコードで計算されたCの発光に対するCHの電離事象数及びCHの発光に対するCHの電離事象数は電子温度が10eV以上の範囲ではJT-60Uでの分光測定結果と定量的に一致した。