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岡 良秀*; 津守 克嘉*; 池田 勝則*; 金子 修*; 永岡 賢一*; 長壁 正樹*; 竹入 康彦*; 浅野 英児*; 駒田 誠司*; 近藤 友紀*; et al.
Review of Scientific Instruments, 79(2), p.02C105_1 - 02C105_4, 2008/02
被引用回数：0 パーセンタイル：0.01(Instruments & Instrumentation)LHD用負イオンNBI装置における、ビーム引出時のプラズマ源中のセシウム(Cs)分光強度を調べた。その結果、ビーム加速を行うと、CsI(中性Cs)とCsII(Cs
)の両方の分光ラインが急激に増加し、その増加は10秒パルスの間、継続することが明らかとなった。この原因は、正イオンの逆流がプラズマ源の内壁に衝突し、内壁に付着していたCsを蒸発/スパッターするのではないかと考えている。
郭 栄治*; 岡本 孝司*; 近藤 雅裕*; Ozdemir, E.*; 柴 鵬輝*; 佐藤 一憲
no journal, ,
本研究では福島第一原子力発電所の安全な廃炉に寄与すべく、数値流体力学(Computational Fluid Dynamics, CFD)を用いて3号機内部の温度分布を再現し、東京電力の測定結果と比較することでデブリの位置を推定する。最適化ツールとCFDを組み合わせることで格納容器内部の最適な熱バランスを求める逆問題を解いていることが本研究の特徴である。
