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越野 雅至*; 倉田 博基; 磯田 正二*; 小林 隆史*
Micron, 31(4), p.373 - 380, 2000/03
被引用回数:13 パーセンタイル:18.81(Microscopy)遷移金属元素の2p電子を励起して得られるL及びL
吸収スペクトルは、金属の電子状態やスピン状態に敏感であることが知られている。本研究では、TiからCuが配位したフタロシアニン分子の結晶性薄膜について、電子エネルギー損失分光法によりL
,
スペクトルを測定し、その電子状態を検討した。その結果、L
+L
の総強度は、各金属元素に局在するホールの数とよい相関関係にあることが見いだされた。また、L
をこの総強度で割った、ブランチング比は高スピン状態にある金属元素ほど高い値を示すことが明らかになった。