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R.C.Isler*; L.E.Murray*; 河西 敏; J.L.Dunlap*; S.C.Bates*; P.H.Edmonds*
Phys.Rev.,A, 24(5), p.2701 - 2712, 1981/00
高速中性子粒子入射加熱を行ったISX-Bトカマクプラズマにおいて、完全電離した酸素イオン(O
)と高速中性粒子(H°)との間の電荷交換再結合によるOVIII線(
=102
強度の急速な増大が観測された。これらのスペクトル線放射の全放射損失への影響は小さいが、この過程はプラズマ中心からの酸素不純物(主要な不純物)による放射損失を3~5倍増加させる。この結果は高速中性粒子入射加熱で観測されている密度クランピングと関係深い異常輸送の説明の一つとなるかもしれない。尚これは昭和55年1月から約1年間米国のオークリッジ研究所に出張し、ISX-Bトカマクの実験に参加したときのものである。
R.C.Isler*; 河西 敏; L.E.Murray*; M.Saltmarsh*; M.Murakami*
Physical Review Letters, 47(5), p.333 - 337, 1981/00
被引用回数：33 パーセンタイル：87.38(Physics, Multidisciplinary)ISX-Bトカマク装置のジュール加熱放電の場合、斜入射分光器を使った強度測定(FeIX,FeXVI,FeXVIII,TiXI,TiXIV)から金属不純物の多くは真空容器壁から放出されることが示された。また色素レーザを用いた蛍光分光測定から得られたプラズマ周辺部の鉄、チタン量の実測値と荷電交換した中性の水素(あるいは重水素)によるスパッタリングが主な発生機構であると仮定して求められた計算値とが良く一致することから発生機構は中性粒子(水素、重水素)のスパッタリングであるとしている。重水素放電の場合金属不純物(鉄)は放電が定常状態であるときプラズマ中心領域に集中し、水素放電の場合は集中しないことが明らかにされた。
R.C.Isler*; L.E.Murray*; 河西 敏; D.E.Arnurius*; S.C.Bates*; E.C.Crume*; J.L.Dunlap*; P.H.Edmonds*; E.A.Lazarus*; M.Murakami*; et al.
Physical Review Letters, 47(9), p.649 - 652, 1981/00
被引用回数：29 パーセンタイル：85.75(Physics, Multidisciplinary)ISX-Bトカマクプラズマ(D)に600kwの高速中性粒子(H°)入射加熱を加えた場合、入射方向がプラズマ電流方向のとき金属不純物(Fe)のプラズマ中心領域への集中化が抑止される。一方プラズマ電流と逆方向に入射すると集中化が強調されることがFeIX,FeXVI,FeXVIII,FeXIXスペクトル線強度の時間経過測定から示された。またプラズマ周辺からのAr-入射でも同様な結果が得られた。(なおこれは昨年オークリッヂ研究所への出張中の仕事である。)
