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口頭

中性子残留応力測定法を用いた実機経年化溶接継手及び補修溶接継手の健全性評価に関する基礎的検討

小原 智史; 高屋 茂; 若井 隆純; 浅山 泰; 鈴木 裕士; 齊藤 徹*; Lauernt, M.*

no journal, , 

本研究では、実機プラントにて526から545度で約88,000h使用された経年化溶接継手及び補修溶接継手に対し、組織観察,残留応力測定及び硬さ試験を実施した。それらの結果から、いずれも経年化及び補修溶接に対応した変化が認められた。現在、補修溶接を含めた経年化溶接継手の健全性評価法の開発に向けて、経年化溶接継手及び補修溶接継手に対して、長時間に渡る熱時効試験及びクリープ試験を実施・継続している。今後、強度特性や組織変化、また、補修溶接継手においてはHAZ近傍に着目する予定であり、本研究にて得られた成果は、それら試験の評価を行ううえで有用である。

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