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奥村 義和; 水谷 泰彦*; 小原 祥裕; 柴田 猛順
Review of Scientific Instruments, 52(1), p.1 - 7, 1981/00
被引用回数：17 パーセンタイル：86.52(Instruments & Instrumentation)プラズマ加熱用中性粒子ビーム中に含まれる不純物の量が、磁場質量分析器を用いて測定された。75KeV/6A/10secイオン源から引き出され、90%中性子平衡セルを通過した後のイオンビームは、1~2%の軽元素不純物(C
、O、H
O等)と、0.02~0.15%の重金属不純物(Cu、W、Ag等)を含んでいる。中性化効率を考慮すると、中性ビームは3~6%の軽元素不純物と0.04~0.3%の重金属不純物を含んでいると推察される。酸素に関する不純物の量は、10秒のパルス中に時間とともに減少する。一方、炭素・銅・タングステンの不純物は、時間とともにわずかに増加する。これらの不純物の発生場所を論じ、不純物量を減らすためのイオン源の運転モードを提案する。
柴田 猛順; 水谷 泰彦*; 奥村 義和; 桜庭 順二*; 柴沼 清
JAERI-M 9213, 8 Pages, 1980/11
60,000/secのクライオポンプ内にビームダンプを置き、そこに70KeV、5A、10秒の水素イオンビームを入射し、そのときのクライオポンプ内圧力と液体ヘリウム蒸発量の変化をみた。ビーム入射中、クライオポンプ内の水素ガス圧力が、7.6
10
Torrから8.510Torrへ上昇するのが見られた。ビーム入射中のパルス熱負荷によりパネルの溶接部の温度が上昇し、水素蒸気圧が高くなって水素ガスを放出するとして、ポンプ内圧力上昇の説明を試みた。JT-60用中性粒子入射装置のクライオポンプでは、クライオポンプが直接受熱面を見込まないように水冷のスパッタシールドを設けるなどの工夫をして、パネルへの熱負荷を小さくしてビーム入射中の水素ガス放出を抑える予定である。
奥村 義和; 松田 慎三郎; 水谷 泰彦*; 小原 祥裕; 大賀 徳道
Review of Scientific Instruments, 51(6), p.728 - 734, 1980/06
被引用回数：23 パーセンタイル：90.68(Instruments & Instrumentation)高エネルギーのイオンビームを準定常的に生成することの出来るイオン源が、製作され試験された。このイオン源の特徴は、適当に成型された電極孔をもつ効率的に冷却された加速電極と、注意深く冷却されたデュオピガトロン型のプラズマ源にある。準定常的にイオン源を操作するために、加速電極及びプラズマ源の上蓋に入る熱負荷を、アークチャンバー内のガス圧を低くすることによって抑えた。その状態のもとで、70keV,5A,10secのイオンビームが問題なく得られた。光ビームモニターによる測定では、10secの間にビーム発散の変化は認められなかった。ビームドリフト領域のガス圧の変化も調べられた。
奥村 義和; 水谷 泰彦*; 小原 祥裕
Review of Scientific Instruments, 51(4), p.471 - 473, 1980/00
被引用回数：21 パーセンタイル：89.72(Instruments & Instrumentation)中性粒子入射加熱装置用の大電流イオン源では、入射効率を上げるためにビームレットを集束させることが必要である。そのような集束は、加速性の電極孔をずらして、ビームレットを偏向させることにより得られる。この論文では、二段加速系におけるビームレット偏向の効果を実験的に調べた。
