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口頭

P/T法及び標準線源法に基づいた体積試料中放射能のサム効果補正量の検討

三枝 純; 永山 雄大; 前田 智史; 岡崎 勤; 依田 朋之; 武石 稔

no journal, , 

$$gamma$$線スペクトロメトリ法により放射能を定量する際、サム効果を補正する必要がある。各種形状・材質の体積試料についてピーク・トータル費(P/T)法により$$^{134}$$Csの605keV及び796keV$$gamma$$線のサム効果の補正量を評価した。この結果を$$^{134}$$Csを含む標準体積源の実測から得た値と比較し考察した。

口頭

JAEA福島環境安全センターにおけるGe半導体検出器の環境バックグラウンド低減化

永山 雄大; 前田 智史; 岡崎 勤; 依田 朋之; 三枝 純

no journal, , 

福島環境安全センターでは福島県内で採取した環境試料の放射能測定を実施している。使用している低バックグラウンド(BKG)Ge検出器の測定においてBKG計数中に放射性セシウムのピークが見られ、目的とする検出下限値を担保するためにこのBKGの低減化が課題となった。そこでBKGを低減するための調査、対策の実施、並びにその効果を検討した。

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