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論文

The $$^{33}$$S(n, $$alpha$$)$$^{30}$$Si cross section measurement at n_TOF-EAR2 (CERN); From 0.01 eV to the resonance region

Sabat$'e$-Gilarte, M.*; Praena, J.*; 原田 秀郎; 木村 敦; n_TOF Collaboration*; 他126名*

EPJ Web of Conferences, 146, p.08004_1 - 08004_4, 2017/09

https://doi.org/10.1051/epjconf/201714608004
 被引用回数：2 パーセンタイル：86.85

CERNのn_TOF第2実験室において、$$^{10}$$B(n,$$alpha$$)を標準断面積として用い、$$^{33}$$S(n, $$alpha$$)$$^{30}$$Si反応断面積を測定した。本実験室では初めてとなる0.01eVから100keVまでの実験データを取得し、本データより0.01eVから10keVまでの中性子断面積を導出した。本反応は、$$^{10}$$B(n, $$alpha$$)反応とともに放射線療法への利用が期待されているが、従来報告された断面積値間には大きな差異がある。本研究により導出した断面積は、信頼性ある断面積評価に反映されることが期待される。

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