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論文

Beamline for surface and interface structures at SPring-8

坂田 修身*; 古川 行人*; 後藤 俊治*; 望月 哲朗*; 宇留賀 朋哉*; 竹下 邦和*; 大橋 治彦*; 大端 通*; 松下 智裕*; 高橋 直*; et al.

Surface Review and Letters, 10(2&3), p.543 - 547, 2003/04

 被引用回数:140 パーセンタイル:96.39(Chemistry, Physical)

SPring-8に建設された表面界面の結晶構造決定用の新しいビームラインのあらましを述べる。ビームライン分光器のステージは、X線による表面研究のために、強度がより安定になるよう改造を施した。X線エネルギーの関数として、絶対光子密度を測定した。新しい超高真空装置、並びに、それを用いて得られたPt(111)上の酸素分子吸着構造のX線回折測定の結果を紹介する。

口頭

X-ray diffraction study on hydrogen-induced Pd(110) surface reconstruction

高橋 正光; 藤川 誠司*; Hu, W.; 田尻 寛男*

no journal, , 

水素化は、材料最表面への水素分子の解離吸着によって始まり、表面第2層目以下の原子への水素吸蔵へと進行していく。この過程で水素化を容易にしている要因、逆に阻害している要因を明らかにすることは、水素貯蔵材料の性能向上に役立つ。本研究では、表面X線回折法による定量的な表面構造解析に基づいて、パラジウム単結晶における水素吸収メカニズムを検討した。実験は、SPring-8の表面界面ビームラインBL13XUで行った。水素暴露量と試料温度とをパラメータとして、Pd基板表面の放射光X線回折測定を行った。表面X線回折プロファイルの変化の測定から、水素吸蔵量の増加が観測され、水素吸着から水素吸蔵へと進行する過程をとらえることができた。

口頭

金属単結晶の表面X線回折; 水素吸収のチャンネル形成の推測

高橋 正光; 藤川 誠司*; Hu, W.; 田尻 寛男*

no journal, , 

水素化は、材料最表面への水素分子の解離吸着によって始まり、表面第2層目以下の原子への水素吸蔵へと進行していく。この過程で水素化を容易にしている要因、逆に阻害している要因を明らかにすることは、水素貯蔵材料の性能向上に役立つ。パラジウムは、古くから研究されている水素吸蔵材料であるとともに、結晶性の高い単結晶が得られ、清浄表面を得ることも容易である。本研究では、表面X線回折法による定量的な表面構造解析に基づいて、パラジウム単結晶における水素吸収メカニズムを検討する。実験は、SPring-8の表面界面ビームラインBL13XUで行った。水素への暴露と加熱処理を繰り返す「熱サイクル過程」により、Pd(110)表面は、水素の表面被覆率1原子層に対応する(2$$times$$1)構造と、被覆率1.5原子層に対応する(1$$times$$2)構造との間を行き来することが低速電子線回折により確認された。この「熱サイクル過程」を繰り返したときの表面X線回折プロファイルの変化を測定したところ、水素吸蔵量の増加が観測され、水素吸着から水素吸蔵へと進行する過程をとらえることができた。

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