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安川 勝正*; 西村 道明*; 西畑 保雄; 水木 純一郎
Journal of the American Ceramic Society, 90(4), p.1107 - 1111, 2007/04
被引用回数:41 パーセンタイル:86.08(Materials Science, Ceramics)放射光X線回折法により、コアシェル構造をもったチタン酸バリウムのセラミックスのシェルの厚みが測定された。TEM/EDSの観察により、チタン酸バリウムのセラミックスは純粋なチタン酸バリウムのコア部と添加物を含むシェル部で構成された不均質な微細構造をもっていることが知られている。また、チタン酸バリウムのコアは正方晶であり、シェルは擬立方晶であることが知られている。立方晶の(400)反射の半値幅からシェラーの式を使って、シェルの厚みを見積もった。また、シェルの厚みは球対称なコアシェルモデルを仮定し、正方晶の体積分率を用いても求められる。これらの値はよく一致し、試料がコアシェル構造をしていることを裏付ける。この実験結果は、放射光X線回折法が、コアシェル構造の定量的解析の簡便で効果的な解析手法であることを示している。それにより、チタン酸バリウムの微細構造と誘電特性の関連を定量的に理解することが可能となる。