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和田 保*; 佐久間 隆*; 酒井 竜太郎*; 上原 寛之*; Xianglian*; 高橋 東之*; 神嶋 修*; 井川 直樹; Danilkin, S. A.*
Solid State Ionics, 225, p.18 - 21, 2012/10
被引用回数:9 パーセンタイル:39.59(Chemistry, Physical)8K及び295KのAgOの中性子回折測定を行い、原子熱変位における相関効果から中性子散漫散乱を解析した。Debye-Waller温度因子から求めたAg
Oの第1,第2及び第3最近接原子間の力定数から結晶構造と原子間相関効果の関係について検討する。
澤田 真一; 山口 大輔; Putra, A.; 小泉 智; 前川 康成
no journal, ,
高性能燃料電池電解質膜を開発するうえで、既存の電解質膜の構造を明らかにすることは非常に重要である。そこで本研究では、小角中性子散乱(SANS)測定によって、エチレン・テトラフルオロエチレン共重合体(ETFE)を基材とする電解質膜の構造を調べた。SANSプロファイルでは、波数q=0.16nm
の位置にショルダーピークが観察された。この結果は、ポリスチレンスルホン酸グラフト鎖からなるドメインは、相関長L
=2
/q=39nmの間隔で存在することを示唆する。ETFEラメラにおける結晶相間隔はL
と近かったことから、ラメラの非晶相領域にグラフト鎖が導入されたと考えられる。