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安居院 あかね; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 水牧 仁一朗*; 田中 真人*; 逢坂 哲彌*
Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 320(22), p.3015 - 3018, 2008/11
被引用回数：1 パーセンタイル：6.37(Materials Science, Multidisciplinary)膜製作温度260
Cで作成された[Co/Pd]及び[CoB/Pd]多層膜についてCo L吸収端において軟X線吸収測定及び磁気円2色性測定を行った。試料はPd相の厚さによって磁化方向が変わり測定はに垂直磁化を示す膜厚のものからPd相を厚くして面内磁化を示すものまでを測定した。Co相にBを添加した場合としない場合についてミクロスコピックな磁気的性質が変化したので報告する。
田中 真人*; 朝日 透*; 安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 佐山 淳一*; 逢坂 哲彌*
no journal, ,
高密度磁気記録媒体材料の候補であるTbCoとCo/Pd多層膜を組合せたTbCo/Pd多層膜及び単層薄膜についてTbCo相膜厚と磁気的性質の関係を調べた。マクロスコピックな磁気的性質の測定にはVSMをミクロスコピックな磁気的性質の測定には軟X線磁気円2色性吸収測定を用いた。ともにある膜厚さに補償膜厚があることがわかった。
