Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Vacik, J.; Hnatowicz, V.*; Cervena, J.*; 楢本 洋; 山本 春也; Fink, D.*
Fullerene Science and Technology, 9(2), p.197 - 209, 2001/05
炭素系薄膜のイオンビーム解析実験の重要性を考え、
H,
H,
He,
Liなどの軽イオンに対する阻止断面積の評価を行った。実験では、ラザフォード後方散乱分光,熱中子利用深さ分布決定法,及び
-粒子分光法等を用いて、計算と比較した。実験値と計算値には、不一致が見られたが、結合状態の違いからくるものと、エネルギー・ストラグリングのように、荒い表面によるものとの、2種類の原因が存在することを明らかにした。
Vacik, J.; Hnatowicz, V.*; Cervena, J.*; 楢本 洋; 山本 春也; Fink, D.*
Fullerene Science and Technology, 9(2), p.197 - 209, 2001/05
本研究では、RBS法,NDP法及びアルファ粒子分光法を用いて、1H, 3H, 4Heや7Liがフラーレン薄膜に入射した時のstopping cross sectionsが測定された。測定値は系統的に計算値よりも大きくなった。この原因としては、イオン入射によるフラーレン薄膜の化学的状態変化と関連していると考えられる。一方energy stragglingに関しても、Bohrによる計算値よりも大きい値が得られた。これに関しては、試料薄膜の厚さの変動によるものと想定される。