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Balois, M. V.*; 早澤 紀彦*; 保田 諭; 池田 勝佳*; Yang, B. *; 數間 惠弥子*; 横田 泰之*; Kim, Y.*; 田中 拓男*
npj 2D Materials and Applications (Internet), 3(1), p.38_1 - 38_10, 2019/10
本研究では、大気中のチップ増強ラマン散乱システム(TERSシステム)を使用して、単層グラフェンの無欠陥領域の許容光学フォノンモードと禁制光学フォノンモードの両方を同時に観察し、それぞれナノメートルスケールのひずみ変動とラマンピークのプラズモン活性化に関して検証を行った。TERSイメージングにより、ひずみの変動と最小5nmまでのナノメートルサイズのドメインが0.7nmの空間分解能で可視化可能であることを示した。さらに、このようなサブナノメートル閉じ込めは、DおよびD'禁制フォノンモードだけでなく、D + D'モードも活性化することが判明した。我々のTERSシステムを使用することで、欠陥のないグラフェンやその他の2Dナノ材料の完全なフォノン特性評価が可能になり、サブナノメートルのひずみ解析や欠陥のない材料の固有特性の探索に有効であることを示した。