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Pu from 

Np irradiated with deuterons馬場 澄子; 畑 健太郎; 出雲 三四六; 本木 良蔵; 関根 俊明
Int.J.Appl.Radiat.Isot., 36(7), p.564 - 565, 1985/00
被引用回数:9 パーセンタイル:80.40(Nuclear Science & Technology)ガンマ線を放出するプルトニウム同位体

Puを、

Np(d,2n)

Pu反応により製造する方法について研究した。

Pu,

Pu及び

Pu生成に関する励起関数を、重陽子の入射エネルギー9MeVから25MeVの範囲で測定した。更に、

Puの厚いターゲットによる生成量を計算し、

Puと

Puの生成量と比較して

Puの放射化学的純度を推定した。
Np Exhibited by K X-ray Spectrum in the EC Decay of
Pu篠原 厚*; 斉藤 直*; 荒川 隆一*; 音在 清輝*; 馬場 宏; 畑 健太郎; 鈴木 敏夫
JAERI-M 9362, 34 Pages, 1981/02
内殻イオン化による原子励起は、X線放射やオージェ電子放出により失活するが、原子核との間にある条件を満たすと、「電子遷移による核励起」(NEET)による失活が可能となる。本報告では、
Puの電子捕獲崩壊時に、娘核種の
NpにおいてNEETが起り得る状態が出現することに着目し、その
NpにおけるNEETの検出を試みた。検出は、NEETを引き起こす摂動の結果現われるサテライトX線のうち、K
X線のサテライト対を調べることにより行われた。その結果、NEET確立の上限値として、4
10
の値を得た。


Pu馬場 宏; 鈴木 敏夫; 畑 健太郎
Journal of Inorganic and Nuclear Chemistry, 43, p.1059 - 1062, 1981/00
被引用回数:4 パーセンタイル:35.44(Chemistry, Inorganic & Nuclear)表面障壁型半導体検出器を用いて、低エネルギー光子スペクトルを繰返し測定することにより、

Puの半減期を測定した。繰返し測定は約600日にわたり43回行った。

Pu測定試料は、理研サイクロトロンの
Heビームを用い

U(
He,4n)

Pu反応で生成したプルトニウムをイオン交換法により分離精製して調整した。半減期測定に妨害となる不純物放射能は

Pu及び2
Puのみであり、且その妨害はLX線領域に限られていた。不純物放射能の妨害を受けないKX線ならびに
線のピーク乃至ピーク群を選んで、それぞれの成分毎に減衰曲線を作成し、最小自乗フィットの操作により、

Puの半減期を求めた。得られた半減期の値は45.12
0.03日であった。


Pu畑 健太郎; 馬場 宏; 梅澤 弘一; 鈴木 敏夫; 野崎 正*
Int.J.Appl.Radiat.Isot., 27(12), p.713 - 715, 1976/12
被引用回数:10モナコ海洋研究所(IAEA)の要請に基いて、約1.5
Ciの

Puを調整した。

Puの生成反応を検討した結果、

U(
He,4n)

Pu反応を選ぶこととし、
HeビームでU金属を照射した。照射した試料を溶解したのち、イオン交換法によりPuを分離精製した。得られたPu試料の一部を取って、半導体検出器による
(X)線および
線スペクトロメトリーとガスフロー・プロポーショナル・カウンターによる
線ならびに転換電子の測定を実施し、

Puの同定と定量,不純物の同定と定量を行なった。その結果、放射性不純物としては、短寿命の





Npの他には、微量の

Ruが検出されたのみで、充分使用目的に耐える純度が得られていると結論された。