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大西 貴士; 田中 康介; 小山 真一; Ou, L. Y.*; 三村 均*
NEA/NSC/R(2017)3, p.463 - 469, 2017/11
資源の有効利用、廃棄物低減のために、無機イオン交換体(タングストリン酸アンモニウム(AMP)またはフェロシアン化銅(KCuFC))をアルギネートゲルで内包するマイクロカプセル(AWP-ALGまたはKCuFC-ALG)、および、アルギネートゲルそのもの(ALG)を用いた核種分離システムの開発を実施している。ALG, AWP-ALGおよびKCuFC-ALGは、それぞれ、Zr, CsおよびPdを選択的に吸着することが明らかになっている。しかしながら、線照射に伴う吸着特性の変化については、十分に調べられていない。そこで、Co線源によって線を3898kGyまで照射した後、各種マイクロカプセルの吸着特性を評価した。その結果、AWP-ALGまたはKCuFC-ALGは、内包する無機イオン交換体によってCsまたはPdを吸着するため、線照射を通して吸着特性に変化は見られなかった。一方、ALGは線照射に伴って放射線分解が進行し、Zrに対する吸着特性が低下した。
大西 貴士; 小山 真一; Ou, L. Y.*; 三村 均*
no journal, ,
高機能性キセロゲルを用いた核種分離プロセス開発の一環として、Zr, CsおよびPdを選択的に吸着するために、アルギネートゲル、タングストリン酸アンモニウム内包アルギネートゲルおよびフェロシアン化銅内包アルギネートゲルを合成した。これらの吸着剤を乾燥状態で最大3898kGyまで線照射した後、バッチ吸着試験を実施した。その結果、照射量の増加に伴ってアルギネートゲルに対するZrの吸着率は低下したが、タングストリン酸アンモニウム内包アルギネートゲルに対するCsの吸着率、およびフェロシアン化銅内包アルギネートゲルに対するPdの吸着率は照射前後で変化しないことを明らかにした。